Applied Physics Letters


ISSN: 0003-6951        年代:1998
当前卷期:Volume 72  issue 3     [ 查看所有卷期 ]

年代:1998
 
     Volume 72  issue 1   
     Volume 72  issue 2   
     Volume 72  issue 3
     Volume 72  issue 4   
     Volume 72  issue 5   
     Volume 72  issue 6   
     Volume 72  issue 7   
     Volume 72  issue 8   
     Volume 72  issue 9   
     Volume 72  issue 10   
     Volume 72  issue 11   
     Volume 72  issue 12   
     Volume 72  issue 13   
     Volume 72  issue 14   
     Volume 72  issue 15   
     Volume 72  issue 16   
     Volume 72  issue 17   
     Volume 72  issue 18   
     Volume 72  issue 19   
     Volume 72  issue 20   
     Volume 72  issue 21   
     Volume 72  issue 22   
     Volume 72  issue 23   
     Volume 72  issue 24   
     Volume 72  issue 25   
     Volume 72  issue 26   
     Volume 73  issue 1   
     Volume 73  issue 2   
     Volume 73  issue 3   
     Volume 73  issue 4   
     Volume 73  issue 5   
     Volume 73  issue 6   
     Volume 73  issue 7   
     Volume 73  issue 8   
     Volume 73  issue 9   
     Volume 73  issue 10   
     Volume 73  issue 11   
     Volume 73  issue 12   
     Volume 73  issue 13   
     Volume 73  issue 14   
     Volume 73  issue 15   
     Volume 73  issue 16   
     Volume 73  issue 17   
     Volume 73  issue 18   
     Volume 73  issue 19   
     Volume 73  issue 20   
     Volume 73  issue 21   
     Volume 73  issue 22   
     Volume 73  issue 23   
     Volume 73  issue 24   
     Volume 73  issue 25   
     Volume 73  issue 26   
31. Self-organized growth of ZnTe nanoscale islands on (001)GaAs
  Applied Physics Letters,   Volume  72,   Issue  3,   1998,   Page  359-361

M. Longo,   N. Lovergine,   A. M. Mancini,   A. Passaseo,   G. Leo,   M. Mazzer,   M. Berti,   A. V. Drigo,  

Preview   |   PDF (179KB)

32. Effect of matrix on InAs self-organized quantum dots on InP substrate
  Applied Physics Letters,   Volume  72,   Issue  3,   1998,   Page  362-364

V. M. Ustinov,   E. R. Weber,   S. Ruvimov,   Z. Liliental-Weber,   A. E. Zhukov,   A. Yu. Egorov,   A. R. Kovsh,   A. F. Tsatsul’nikov,   P. S. Kop’ev,  

Preview   |   PDF (140KB)

33. Defect-induced Raman scattering in resonance with yellow luminescence transitions in hexagonal GaN on a sapphire substrate
  Applied Physics Letters,   Volume  72,   Issue  3,   1998,   Page  365-367

De-Sheng Jiang,   M. Ramsteiner,   K. H. Ploog,   H. Tews,   A. Graber,   R. Averbeck,   H. Riechert,  

Preview   |   PDF (60KB)

34. Nearly noise-free transistor operated in the 2–18 GHz range
  Applied Physics Letters,   Volume  72,   Issue  3,   1998,   Page  368-370

J. A. Fendrich,   M. Feng,  

Preview   |   PDF (95KB)

35. Microscopic nature of Staebler-Wronski defect formation in amorphous silicon
  Applied Physics Letters,   Volume  72,   Issue  3,   1998,   Page  371-373

R. Biswas,   B. C. Pan,  

Preview   |   PDF (723KB)

36. Measurement of the zero-bias electron transmittance as a function of energy for half- and quarter-electron-wavelength semiconductor quantum-interference filters
  Applied Physics Letters,   Volume  72,   Issue  3,   1998,   Page  374-376

D. K. Guthrie,   P. N. First,   T. K. Gaylord,   E. N. Glytsis,   R. E. Leibenguth,  

Preview   |   PDF (72KB)

37. Observation of voltage-locked states in strongly coupled stacked Josephson junctions
  Applied Physics Letters,   Volume  72,   Issue  3,   1998,   Page  377-379

G. Carapella,   G. Costabile,  

Preview   |   PDF (72KB)

38. Structure and magnetic properties of exchange-spring Sm–Co/Co superlattices
  Applied Physics Letters,   Volume  72,   Issue  3,   1998,   Page  380-382

Eric E. Fullerton,   J. Samuel Jiang,   C. H. Sowers,   J. E. Pearson,   S. D. Bader,  

Preview   |   PDF (3634KB)

39. Sequential position readout from arrays of micromechanical cantilever sensors
  Applied Physics Letters,   Volume  72,   Issue  3,   1998,   Page  383-385

H. P. Lang,   R. Berger,   C. Andreoli,   J. Brugger,   M. Despont,   P. Vettiger,   Ch. Gerber,   J. K. Gimzewski,   J. P. Ramseyer,   E. Meyer,   H.-J. Gu¨ntherodt,  

Preview   |   PDF (870KB)

40. Point-contact electrodes to probe charging effects in individual ultrasmall cobalt clusters
  Applied Physics Letters,   Volume  72,   Issue  3,   1998,   Page  386-388

R. Desmicht,   G. Faini,   V. Cros,   A. Fert,   F. Petroff,   A. Vaure`s,  

Preview   |   PDF (295KB)

首页 上一页 下一页 尾页 第4页 共41条