Applied Physics Letters


ISSN: 0003-6951        年代:1991
当前卷期:Volume 58  issue 19     [ 查看所有卷期 ]

年代:1991
 
     Volume 58  issue 1   
     Volume 58  issue 2   
     Volume 58  issue 3   
     Volume 58  issue 4   
     Volume 58  issue 5   
     Volume 58  issue 6   
     Volume 58  issue 7   
     Volume 58  issue 8   
     Volume 58  issue 9   
     Volume 58  issue 10   
     Volume 58  issue 11   
     Volume 58  issue 12   
     Volume 58  issue 13   
     Volume 58  issue 14   
     Volume 58  issue 15   
     Volume 58  issue 16   
     Volume 58  issue 17   
     Volume 58  issue 18   
     Volume 58  issue 19
     Volume 58  issue 20   
     Volume 58  issue 21   
     Volume 58  issue 22   
     Volume 58  issue 23   
     Volume 58  issue 24   
     Volume 58  issue 25   
     Volume 59  issue 1   
     Volume 59  issue 2   
     Volume 59  issue 3   
     Volume 59  issue 4   
     Volume 59  issue 5   
     Volume 59  issue 6   
     Volume 59  issue 7   
     Volume 59  issue 8   
     Volume 59  issue 9   
     Volume 59  issue 10   
     Volume 59  issue 11   
     Volume 59  issue 12   
     Volume 59  issue 13   
     Volume 59  issue 14   
     Volume 59  issue 15   
     Volume 59  issue 16   
     Volume 59  issue 17   
     Volume 59  issue 18   
     Volume 59  issue 19   
     Volume 59  issue 20   
     Volume 59  issue 21   
     Volume 59  issue 22   
     Volume 59  issue 23   
     Volume 59  issue 24   
     Volume 59  issue 25   
     Volume 59  issue 26   
     Volume 59  issue 27   
31. Electron paramagnetic resonance of a multistable interstitial‐carbon‐substitutional‐phosphorus pair in silicon
  Applied Physics Letters,   Volume  58,   Issue  19,   1991,   Page  2144-2146

X. D. Zhan,   G. D. Watkins,  

Preview   |   PDF (428KB)

32. New test structure to identify step coverage mechanisms in chemical vapor deposition of silicon dioxide
  Applied Physics Letters,   Volume  58,   Issue  19,   1991,   Page  2147-2149

Lie‐Yea Cheng,   James P. McVittie,   Krishna C. Saraswat,  

Preview   |   PDF (426KB)

33. Fabrication of patterned Gex/Si1−x/Si layers by pulsed laser induced epitaxy
  Applied Physics Letters,   Volume  58,   Issue  19,   1991,   Page  2150-2152

Y. Chang,   S. Y. Chou,   J. Kramer,   T. W. Sigmon,   A. F. Marshall,   K. H. Weiner,  

Preview   |   PDF (406KB)

34. Breakdown of crystallinity in low‐temperature‐grown GaAs layers
  Applied Physics Letters,   Volume  58,   Issue  19,   1991,   Page  2153-2155

Zuzanna Liliental‐Weber,   W. Swider,   K. M. Yu,   J. Kortright,   F. W. Smith,   A. R. Calawa,  

Preview   |   PDF (521KB)

35. Ultrafast graded double‐heterostructure GaInAs/InP photodiode
  Applied Physics Letters,   Volume  58,   Issue  19,   1991,   Page  2156-2158

Y. G. Wey,   D. L. Crawford,   K. Giboney,   J. E. Bowers,   M. J. Rodwell,   P. Silvestre,   M. J. Hafich,   G. Y. Robinson,  

Preview   |   PDF (278KB)

36. Strain tolerant microfilamentary conductors of Bi2Sr2Ca1Cu2O8−&dgr;
  Applied Physics Letters,   Volume  58,   Issue  19,   1991,   Page  2159-2161

T. A. Miller,   J. E. Ostenson,   Q. Li,   L. A. Schwartzkopf,   D. K. Finnemore,   J. Righi,   R. A. Gleixner,   D. Zeigler,  

Preview   |   PDF (339KB)

37. Coherent emission from two‐dimensional Josephson junction arrays
  Applied Physics Letters,   Volume  58,   Issue  19,   1991,   Page  2162-2164

S. P. Benz,   C. J. Burroughs,  

Preview   |   PDF (467KB)

38. Epitaxial CeO2films as buffer layers for high‐temperature superconducting thin films
  Applied Physics Letters,   Volume  58,   Issue  19,   1991,   Page  2165-2167

X. D. Wu,   R. C. Dye,   R. E. Muenchausen,   S. R. Foltyn,   M. Maley,   A. D. Rollett,   A. R. Garcia,   N. S. Nogar,  

Preview   |   PDF (376KB)

39. Observation of two in‐plane epitaxial states in YBa2Cu3O7−&dgr;films on yttria‐stabilized ZrO2
  Applied Physics Letters,   Volume  58,   Issue  19,   1991,   Page  2168-2170

S. M. Garrison,   N. Newman,   B. F. Cole,   K. Char,   R. W. Barton,  

Preview   |   PDF (403KB)

40. Thickness dependence of the twin density in YBa2Cu3O7−&dgr;thin films sputtered onto MgO substrates
  Applied Physics Letters,   Volume  58,   Issue  19,   1991,   Page  2171-2173

S. K. Streiffer,   E. M. Zielinski,   B. M. Lairson,   J. C. Bravman,  

Preview   |   PDF (337KB)

首页 上一页 下一页 尾页 第4页 共43条