Applied Physics Letters


ISSN: 0003-6951        年代:1996
当前卷期:Volume 69  issue 10     [ 查看所有卷期 ]

年代:1996
 
     Volume 68  issue 1   
     Volume 68  issue 2   
     Volume 68  issue 3   
     Volume 68  issue 4   
     Volume 68  issue 5   
     Volume 68  issue 6   
     Volume 68  issue 7   
     Volume 68  issue 8   
     Volume 68  issue 9   
     Volume 68  issue 10   
     Volume 68  issue 11   
     Volume 68  issue 12   
     Volume 68  issue 13   
     Volume 68  issue 14   
     Volume 68  issue 15   
     Volume 68  issue 16   
     Volume 68  issue 17   
     Volume 68  issue 18   
     Volume 68  issue 19   
     Volume 68  issue 20   
     Volume 68  issue 21   
     Volume 68  issue 22   
     Volume 68  issue 23   
     Volume 68  issue 24   
     Volume 68  issue 25   
     Volume 68  issue 26   
     Volume 69  issue 1   
     Volume 69  issue 2   
     Volume 69  issue 3   
     Volume 69  issue 4   
     Volume 69  issue 5   
     Volume 69  issue 6   
     Volume 69  issue 7   
     Volume 69  issue 8   
     Volume 69  issue 9   
     Volume 69  issue 10
     Volume 69  issue 11   
     Volume 69  issue 12   
     Volume 69  issue 13   
     Volume 69  issue 14   
     Volume 69  issue 15   
     Volume 69  issue 16   
     Volume 69  issue 17   
     Volume 69  issue 18   
     Volume 69  issue 19   
     Volume 69  issue 20   
     Volume 69  issue 21   
     Volume 69  issue 22   
     Volume 69  issue 23   
     Volume 69  issue 24   
     Volume 69  issue 25   
     Volume 69  issue 26   
     Volume 69  issue 27   
41. 17.1% efficient metal‐insulator‐semiconductor inversion layer silicon solar cells using truncated pyramids
  Applied Physics Letters,   Volume  69,   Issue  10,   1996,   Page  1462-1464

Manfred Grauvogl,   Armin G. Aberle,   Rudolf Hezel,  

Preview   |   PDF (107KB)

42. The role of point defects and arsenic precipitates in carrier trapping and recombination in low‐temperature grown GaAs
  Applied Physics Letters,   Volume  69,   Issue  10,   1996,   Page  1465-1467

A. J. Lochtefeld,   M. R. Melloch,   J. C. P. Chang,   E. S. Harmon,  

Preview   |   PDF (84KB)

43. Variation of surface morphology with substrate temperature for molecular beam epitaxially grown GaSb(100) on GaAs(100)
  Applied Physics Letters,   Volume  69,   Issue  10,   1996,   Page  1468-1470

S. J. Brown,   M. P. Grimshaw,   D. A. Ritchie,   G. A. C. Jones,  

Preview   |   PDF (206KB)

44. Noninvasive measurement of charging in plasmas using microelectromechanical charge sensing devices
  Applied Physics Letters,   Volume  69,   Issue  10,   1996,   Page  1471-1473

Kiran Pangal,   Samara L. Firebaugh,   James C. Sturm,  

Preview   |   PDF (77KB)

45. Nature of Mg impurities in GaN
  Applied Physics Letters,   Volume  69,   Issue  10,   1996,   Page  1474-1476

J. Z. Li,   J. Y. Lin,   H. X. Jiang,   A. Salvador,   A. Botchkarev,   H. Morkoc,  

Preview   |   PDF (85KB)

46. Ridge‐geometry InGaN multi‐quantum‐well‐structure laser diodes
  Applied Physics Letters,   Volume  69,   Issue  10,   1996,   Page  1477-1479

Shuji Nakamura,   Masayuki Senoh,   Shin‐ichi Nagahama,   Naruhito Iwasa,   Takao Yamada,   Toshio Matsushita,   Yasunobu Sugimoto,   Hiroyuki Kiyoku,  

Preview   |   PDF (70KB)

47. Evidence of enhanced pinning properties in optimally doped Bi2Sr2Ca1−xYxCu2O8+&dgr; single crystals
  Applied Physics Letters,   Volume  69,   Issue  10,   1996,   Page  1480-1482

G. Villard,   D. Pelloquin,   A. Maignan,   A. Wahl,  

Preview   |   PDF (67KB)

48. Radio frequency‐SQUID effect in YNi2B2C due to natural grain boundary weak links
  Applied Physics Letters,   Volume  69,   Issue  10,   1996,   Page  1483-1485

Neeraj Khare,   A. K. Gupta,   Sangeeta Khare,   L. C. Gupta,   R. Nagarajan,   Z. Hossain,   R. Vijayaraghavan,  

Preview   |   PDF (114KB)

49. Manganese perovskites: Thick‐film based position sensors fabrication
  Applied Physics Letters,   Volume  69,   Issue  10,   1996,   Page  1486-1488

Ll. Balcells,   R. Enrich,   J. Mora,   A. Calleja,   J. Fontcuberta,   X. Obradors,  

Preview   |   PDF (138KB)

50. Polarized neutron reflectometry study of an exchange biased Fe3O4/NiO multilayer
  Applied Physics Letters,   Volume  69,   Issue  10,   1996,   Page  1489-1491

A. R. Ball,   A. J. G. Leenaers,   P. J. van der Zaag,   K. A. Shaw,   B. Singer,   D. M. Lind,   H. Fredrikze,   M.Th. Rekveldt,  

Preview   |   PDF (68KB)

首页 上一页 下一页 尾页 第5页 共52条