Applied Physics Letters


ISSN: 0003-6951        年代:1997
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41. Nuclear magnetic resonance using a high temperature superconducting quantum interference device
  Applied Physics Letters,   Volume  70,   Issue  8,   1997,   Page  1037-1039

S. Kumar,   R. Matthews,   S. G. Haupt,   D. K. Lathrop,   M. Takigawa,   J. R. Rozen,   S. L. Brown,   R. H. Koch,  

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42. Photoinduced magnetic pole inversion in a ferro–ferrimagnet:(Fe0.40IIMn0.60II)1.5CrIII(CN)6
  Applied Physics Letters,   Volume  70,   Issue  8,   1997,   Page  1040-1042

Shin-ichi Ohkoshi,   Shinsuke Yorozu,   Osamu Sato,   Tomokazu Iyoda,   Akira Fujishima,   Kazuhito Hashimoto,  

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43. Self-organized Fe nanowire arrays prepared by shadow deposition on NaCl(110) templates
  Applied Physics Letters,   Volume  70,   Issue  8,   1997,   Page  1043-1045

Akira Sugawara,   T. Coyle,   G. G. Hembree,   M. R. Scheinfein,  

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44. Magnetoresistance behavior of submicronNi80Fe20wires
  Applied Physics Letters,   Volume  70,   Issue  8,   1997,   Page  1046-1048

A. O. Adeyeye,   G. Lauhoff,   J. A. C. Bland,   C. Daboo,   D. G. Hasko,   H. Ahmed,  

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45. Experimental test of models of radio-frequency plasma sheaths
  Applied Physics Letters,   Volume  70,   Issue  8,   1997,   Page  1049-1051

M. A. Sobolewski,  

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46. CH3detection in a low-density supersonic arcjet plasma during diamond synthesis
  Applied Physics Letters,   Volume  70,   Issue  8,   1997,   Page  1052-1054

Michael H. Loh,   Mark A. Cappelli,  

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47. Comment on “Purely optical measurement of the resistivity distribution of semi-insulating InP:Fe by means of the photorefractive effect” [Appl. Phys. Lett.67, 392 (1995)]
  Applied Physics Letters,   Volume  70,   Issue  8,   1997,   Page  1055-1056

C. O¨zkul,  

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48. Response to “Comment on ‘Purely optical measurement of the resistivity distribution of semi-insulating InP:Fe by means of the photorefractive effect’ ’’ [Appl. Phys. Lett.70, 1055 (1997)]
  Applied Physics Letters,   Volume  70,   Issue  8,   1997,   Page  1057-1057

G. Wittmann,   A. Winnacker,  

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49. Erratum: “An investigation on the leakage current and time dependent dielectric breakdown of ferroelectric lead–zirconate–titanate thin film capacitors for memory device applications” [Appl. Phys. Lett.69, 4011 (1996)]
  Applied Physics Letters,   Volume  70,   Issue  8,   1997,   Page  1058-1058

Jia-lin Chen,   Hong-ming Chen,   Joseph Ya-min Lee,  

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