Applied Physics Letters


ISSN: 0003-6951        年代:1996
当前卷期:Volume 69  issue 24     [ 查看所有卷期 ]

年代:1996
 
     Volume 68  issue 1   
     Volume 68  issue 2   
     Volume 68  issue 3   
     Volume 68  issue 4   
     Volume 68  issue 5   
     Volume 68  issue 6   
     Volume 68  issue 7   
     Volume 68  issue 8   
     Volume 68  issue 9   
     Volume 68  issue 10   
     Volume 68  issue 11   
     Volume 68  issue 12   
     Volume 68  issue 13   
     Volume 68  issue 14   
     Volume 68  issue 15   
     Volume 68  issue 16   
     Volume 68  issue 17   
     Volume 68  issue 18   
     Volume 68  issue 19   
     Volume 68  issue 20   
     Volume 68  issue 21   
     Volume 68  issue 22   
     Volume 68  issue 23   
     Volume 68  issue 24   
     Volume 68  issue 25   
     Volume 68  issue 26   
     Volume 69  issue 1   
     Volume 69  issue 2   
     Volume 69  issue 3   
     Volume 69  issue 4   
     Volume 69  issue 5   
     Volume 69  issue 6   
     Volume 69  issue 7   
     Volume 69  issue 8   
     Volume 69  issue 9   
     Volume 69  issue 10   
     Volume 69  issue 11   
     Volume 69  issue 12   
     Volume 69  issue 13   
     Volume 69  issue 14   
     Volume 69  issue 15   
     Volume 69  issue 16   
     Volume 69  issue 17   
     Volume 69  issue 18   
     Volume 69  issue 19   
     Volume 69  issue 20   
     Volume 69  issue 21   
     Volume 69  issue 22   
     Volume 69  issue 23   
     Volume 69  issue 24
     Volume 69  issue 25   
     Volume 69  issue 26   
     Volume 69  issue 27   
41. Properties of Schottky contacts of aluminum on strained Si1−x−yGexCylayers
  Applied Physics Letters,   Volume  69,   Issue  24,   1996,   Page  3743-3745

Jian Mi,   Ashawant Gupta,   Cary Y. Yang,   Jintian Zhu,   Paul K. L. Yu,   Patricia Warren,   Michel Dutoit,  

Preview   |   PDF (78KB)

42. Controlled growth of bulk bicrystals and the investigation of microstructure‐property relations of YBa2Cu3Oxgrain boundaries
  Applied Physics Letters,   Volume  69,   Issue  24,   1996,   Page  3746-3748

V. R. Todt,   X. F. Zhang,   D. J. Miller,   M. St. Louis‐Weber,   V. P. Dravid,  

Preview   |   PDF (1097KB)

43. Measurement of rapidly varying electric fields through parity oscillations in the Rydberg states of hydrogenic atoms
  Applied Physics Letters,   Volume  69,   Issue  24,   1996,   Page  3749-3751

N. E. Shafer‐Ray,   R. N. Zare,  

Preview   |   PDF (65KB)

44. Nanometer‐scale recording on an organic‐complex thin film with a scanning tunneling microscope
  Applied Physics Letters,   Volume  69,   Issue  24,   1996,   Page  3752-3753

L. P. Ma,   Y. L. Song,   H. J. Gao,   W. B. Zhao,   H. Y. Chen,   Z. Q. Xue,   S. J. Pang,  

Preview   |   PDF (84KB)

45. Nondestructive evaluation of the oxidation stresses through thermal barrier coatings using Cr3+piezospectroscopy
  Applied Physics Letters,   Volume  69,   Issue  24,   1996,   Page  3754-3756

R. J. Christensen,   D. M. Lipkin,   D. R. Clarke,   K. Murphy,  

Preview   |   PDF (180KB)

首页 上一页 下一页 尾页 第5页 共45条