Applied Physics Letters


ISSN: 0003-6951        年代:1995
当前卷期:Volume 66  issue 19     [ 查看所有卷期 ]

年代:1995
 
     Volume 66  issue 1   
     Volume 66  issue 2   
     Volume 66  issue 3   
     Volume 66  issue 4   
     Volume 66  issue 5   
     Volume 66  issue 6   
     Volume 66  issue 7   
     Volume 66  issue 8   
     Volume 66  issue 9   
     Volume 66  issue 10   
     Volume 66  issue 11   
     Volume 66  issue 12   
     Volume 66  issue 13   
     Volume 66  issue 14   
     Volume 66  issue 15   
     Volume 66  issue 16   
     Volume 66  issue 17   
     Volume 66  issue 18   
     Volume 66  issue 19
     Volume 66  issue 20   
     Volume 66  issue 21   
     Volume 66  issue 22   
     Volume 66  issue 23   
     Volume 66  issue 24   
     Volume 66  issue 25   
     Volume 66  issue 26   
     Volume 67  issue 1   
     Volume 67  issue 2   
     Volume 67  issue 3   
     Volume 67  issue 4   
     Volume 67  issue 5   
     Volume 67  issue 6   
     Volume 67  issue 7   
     Volume 67  issue 8   
     Volume 67  issue 9   
     Volume 67  issue 10   
     Volume 67  issue 11   
     Volume 67  issue 12   
     Volume 67  issue 13   
     Volume 67  issue 14   
     Volume 67  issue 15   
     Volume 67  issue 16   
     Volume 67  issue 17   
     Volume 67  issue 18   
     Volume 67  issue 19   
     Volume 67  issue 20   
     Volume 67  issue 21   
     Volume 67  issue 22   
     Volume 67  issue 23   
     Volume 67  issue 24   
     Volume 67  issue 25   
     Volume 67  issue 26   
41. Transport critical‐current characteristics of (Bi,Pb)2Sr2Ca2Cu3Oxsilver‐sheathed pressed and rolled tapes
  Applied Physics Letters,   Volume  66,   Issue  19,   1995,   Page  2570-2572

Yuping Sun,   Jiaju Du,   Zi Lu,   Guoyang Xu,   Yuheng Zhang,   Zhenzhong Duan,   Xiande Tang,   Zhengping Xi,   Lian Zhou,  

Preview   |   PDF (108KB)

42. Formation of a strongly coupled YBa2Cu3Oxdomain by the melt‐joining method
  Applied Physics Letters,   Volume  66,   Issue  19,   1995,   Page  2573-2575

Donglu Shi,  

Preview   |   PDF (259KB)

43. Current–voltage characteristics of dc voltage biased high temperature superconducting microbridges
  Applied Physics Letters,   Volume  66,   Issue  19,   1995,   Page  2576-2578

G. Darcy Poulin,   Jean Lachapelle,   Steven H. Moffat,   Frank A. Hegmann,   John S. Preston,  

Preview   |   PDF (113KB)

44. Perpendicular current magnetoresistance in Co/Cu/NiFeCo/Cu multilayered microstructures
  Applied Physics Letters,   Volume  66,   Issue  19,   1995,   Page  2579-2581

W. Vavra,   S. F. Cheng,   Anita Fink,   J. J. Krebs,   G. A. Prinz,  

Preview   |   PDF (133KB)

45. Magnetic force microscopy of the submicron magnetic assembly in a magnetotactic bacterium
  Applied Physics Letters,   Volume  66,   Issue  19,   1995,   Page  2582-2584

R. B. Proksch,   T. E. Scha¨ffer,   B. M. Moskowitz,   E. D. Dahlberg,   D. A. Bazylinski,   R. B. Frankel,  

Preview   |   PDF (294KB)

46. Submicron studies of recording media using thin‐film magnetic scanning probes
  Applied Physics Letters,   Volume  66,   Issue  19,   1995,   Page  2585-2587

Scott Manalis,   Kenneth Babcock,   James Massie,   Virgil Elings,   Matthew Dugas,  

Preview   |   PDF (188KB)

47. Application of single electron tunneling: Precision capacitance ratio measurements
  Applied Physics Letters,   Volume  66,   Issue  19,   1995,   Page  2588-2590

Alan F. Clark,   Neil M. Zimmerman,   Edwin R. Williams,   A. Amar,   Dian Song,   F. C. Wellstood,   C. J. Lobb,   R. J. Soulen,  

Preview   |   PDF (61KB)

48. Study of photochemical reaction from C70adsorbed on silver film by surface enhanced Raman scattering
  Applied Physics Letters,   Volume  66,   Issue  19,   1995,   Page  2591-2593

Yujun Mo,   Giorgio Mattei,   Mario Pagannone,   Sishen Xie,  

Preview   |   PDF (63KB)

首页 上一页 下一页 尾页 第5页 共48条