Applied Physics Letters


ISSN: 0003-6951        年代:1997
当前卷期:Volume 71  issue 25     [ 查看所有卷期 ]

年代:1997
 
     Volume 70  issue 1   
     Volume 70  issue 2   
     Volume 70  issue 3   
     Volume 70  issue 4   
     Volume 70  issue 5   
     Volume 70  issue 6   
     Volume 70  issue 7   
     Volume 70  issue 8   
     Volume 70  issue 9   
     Volume 70  issue 10   
     Volume 70  issue 11   
     Volume 70  issue 12   
     Volume 70  issue 13   
     Volume 70  issue 14   
     Volume 70  issue 15   
     Volume 70  issue 16   
     Volume 70  issue 17   
     Volume 70  issue 18   
     Volume 70  issue 19   
     Volume 70  issue 20   
     Volume 70  issue 21   
     Volume 70  issue 22   
     Volume 70  issue 23   
     Volume 70  issue 24   
     Volume 70  issue 25   
     Volume 70  issue 26   
     Volume 71  issue 1   
     Volume 71  issue 2   
     Volume 71  issue 3   
     Volume 71  issue 4   
     Volume 71  issue 5   
     Volume 71  issue 6   
     Volume 71  issue 7   
     Volume 71  issue 8   
     Volume 71  issue 9   
     Volume 71  issue 10   
     Volume 71  issue 11   
     Volume 71  issue 12   
     Volume 71  issue 13   
     Volume 71  issue 14   
     Volume 71  issue 15   
     Volume 71  issue 16   
     Volume 71  issue 17   
     Volume 71  issue 18   
     Volume 71  issue 19   
     Volume 71  issue 20   
     Volume 71  issue 21   
     Volume 71  issue 22   
     Volume 71  issue 23   
     Volume 71  issue 24   
     Volume 71  issue 25
     Volume 71  issue 26   
41. Impact of mixing of disturbed bonding states on time-dependent dielectric breakdown inSiO2thin films
  Applied Physics Letters,   Volume  71,   Issue  25,   1997,   Page  3721-3723

J. W. McPherson,   H. C. Mogul,  

Preview   |   PDF (76KB)

42. Modulating electron beams for anXband relativistic klystron amplifier
  Applied Physics Letters,   Volume  71,   Issue  25,   1997,   Page  3724-3726

M. Friedman,   J. Pasour,   D. Smithe,  

Preview   |   PDF (258KB)

43. Single DNA molecule grafting and manipulation using a combined atomic force microscope and an optical tweezer
  Applied Physics Letters,   Volume  71,   Issue  25,   1997,   Page  3727-3729

G. V. Shivashankar,   A. Libchaber,  

Preview   |   PDF (880KB)

44. Effect of negative capacitances on high-temperature dielectric measurements at relatively low frequency
  Applied Physics Letters,   Volume  71,   Issue  25,   1997,   Page  3730-3732

Jean-Claude M’Peko,  

Preview   |   PDF (59KB)

首页 上一页 下一页 尾页 第5页 共44条