Applied Physics Letters


ISSN: 0003-6951        年代:1998
当前卷期:Volume 72  issue 18     [ 查看所有卷期 ]

年代:1998
 
     Volume 72  issue 1   
     Volume 72  issue 2   
     Volume 72  issue 3   
     Volume 72  issue 4   
     Volume 72  issue 5   
     Volume 72  issue 6   
     Volume 72  issue 7   
     Volume 72  issue 8   
     Volume 72  issue 9   
     Volume 72  issue 10   
     Volume 72  issue 11   
     Volume 72  issue 12   
     Volume 72  issue 13   
     Volume 72  issue 14   
     Volume 72  issue 15   
     Volume 72  issue 16   
     Volume 72  issue 17   
     Volume 72  issue 18
     Volume 72  issue 19   
     Volume 72  issue 20   
     Volume 72  issue 21   
     Volume 72  issue 22   
     Volume 72  issue 23   
     Volume 72  issue 24   
     Volume 72  issue 25   
     Volume 72  issue 26   
     Volume 73  issue 1   
     Volume 73  issue 2   
     Volume 73  issue 3   
     Volume 73  issue 4   
     Volume 73  issue 5   
     Volume 73  issue 6   
     Volume 73  issue 7   
     Volume 73  issue 8   
     Volume 73  issue 9   
     Volume 73  issue 10   
     Volume 73  issue 11   
     Volume 73  issue 12   
     Volume 73  issue 13   
     Volume 73  issue 14   
     Volume 73  issue 15   
     Volume 73  issue 16   
     Volume 73  issue 17   
     Volume 73  issue 18   
     Volume 73  issue 19   
     Volume 73  issue 20   
     Volume 73  issue 21   
     Volume 73  issue 22   
     Volume 73  issue 23   
     Volume 73  issue 24   
     Volume 73  issue 25   
     Volume 73  issue 26   
41. Evidence for misfit dislocation-related carrier accumulation at the InAs/GaP heterointerface
  Applied Physics Letters,   Volume  72,   Issue  18,   1998,   Page  2319-2321

V. Gopal,   E. P. Kvam,   T. P. Chin,   J. M. Woodall,  

Preview   |   PDF (167KB)

42. Electron transfer efficiency of Si &dgr;-modulation-doped pseudomorphicGaAs/In0.2Ga0.8As/AlxGa1−xAsquantum wells
  Applied Physics Letters,   Volume  72,   Issue  18,   1998,   Page  2322-2324

G. Li,   A. Babinski,   S. J. Chua,   C. Jagadish,  

Preview   |   PDF (67KB)

43. Suppressed rf dissipation in107Ag17+ion irradiatedBi2Sr2CaCu2O8single crystals by enhanced flux line tilt modulus
  Applied Physics Letters,   Volume  72,   Issue  18,   1998,   Page  2325-2327

Y. S. Sudershan,   Amit Rastogi,   S. V. Bhat,   A. K. Grover,   Y. Yamaguchi,   K. Oka,   Y. Nishihara,   L. Senapati,   D. Kanjilal,  

Preview   |   PDF (110KB)

44. Measurement of the dynamic error rate of a high temperature superconductor rapid single flux quantum comparator
  Applied Physics Letters,   Volume  72,   Issue  18,   1998,   Page  2328-2330

B. Ruck,   B. Oelze,   R. Dittmann,   A. Engelhardt,   E. Sodtke,   W. E. Booij,   M. G. Blamire,  

Preview   |   PDF (73KB)

45. Probing structure and magnetism of CoNi/Pt interfaces by nonlinear magneto-optics
  Applied Physics Letters,   Volume  72,   Issue  18,   1998,   Page  2331-2333

A. Kirilyuk,   Th. Rasing,   M. A. M. Haast,   J. C. Lodder,  

Preview   |   PDF (89KB)

46. Assisted tunneling in ferromagnetic junctions and half-metallic oxides
  Applied Physics Letters,   Volume  72,   Issue  18,   1998,   Page  2334-2336

A. M. Bratkovsky,  

Preview   |   PDF (102KB)

47. Decoupling the structural and magnetic phase transformations in magneto-optic MnBi thin films by the partial substitution of Cr for Mn
  Applied Physics Letters,   Volume  72,   Issue  18,   1998,   Page  2337-2339

Prabhakar R. Bandaru,   Timothy D. Sands,   Yukiko Kubota,   Ernesto E. Marinero,  

Preview   |   PDF (210KB)

48. Automated parallel high-speed atomic force microscopy
  Applied Physics Letters,   Volume  72,   Issue  18,   1998,   Page  2340-2342

S. C. Minne,   G. Yaralioglu,   S. R. Manalis,   J. D. Adams,   J. Zesch,   A. Atalar,   C. F. Quate,  

Preview   |   PDF (170KB)

首页 上一页 下一页 尾页 第5页 共48条