Applied Physics Letters


ISSN: 0003-6951        年代:1998
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1. Electro-optic modulation of laser diode light by mode interference in a multilayer waveguide including a 2-docosylamino-5-nitropyridine Langmuir–Blodgett film
  Applied Physics Letters,   Volume  72,   Issue  8,   1998,   Page  873-875

L. Palchetti,   S. Sottini,   D. Grando,   E. Giorgetti,   R. Ricceri,   G. Gabrielli,  

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2. Ultralow-threshold(50 A/cm2)strained single-quantum-well GaInAsSb/AlGaAsSb lasers emitting at 2.05 &mgr;m
  Applied Physics Letters,   Volume  72,   Issue  8,   1998,   Page  876-878

G. W. Turner,   H. K. Choi,   M. J. Manfra,  

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3. Self-diffraction from free surface relief gratings in a photorefractiveBi12TiO20crystal
  Applied Physics Letters,   Volume  72,   Issue  8,   1998,   Page  879-881

S. Stepanov,   N. Korneev,   A. Gerwens,   K. Buse,  

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4. Optical absorption and multiphonon relaxation ofNd3+ions inZnCl2-based glass
  Applied Physics Letters,   Volume  72,   Issue  8,   1998,   Page  882-884

M. Shojiya,   M. Takahashi,   R. Kanno,   Y. Kawamoto,   K. Kadono,  

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5. Polymer-stabilized diffraction gratings from cholesteric liquid crystals
  Applied Physics Letters,   Volume  72,   Issue  8,   1998,   Page  885-887

S. N. Lee,   L. C. Chien,   S. Sprunt,  

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6. Effect of many weak side modes on relative intensity noise of distributed feedback semiconductor lasers
  Applied Physics Letters,   Volume  72,   Issue  8,   1998,   Page  888-890

Eva Peral,   William K. Marshall,   Dan Provenzano,   Amnon Yariv,  

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7. Electromagnetic characterization of vertical-cavity surface-emitting lasers based on a vectorial eigenmode calculation
  Applied Physics Letters,   Volume  72,   Issue  8,   1998,   Page  891-893

D. Burak,   R. Binder,  

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8. Quantum transport in metallic nanowires fabricated by electrochemical deposition/dissolution
  Applied Physics Letters,   Volume  72,   Issue  8,   1998,   Page  894-896

C. Z. Li,   N. J. Tao,  

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9. Short-range disorder in lanthanum-doped lead titanate ceramics probed by Raman scattering
  Applied Physics Letters,   Volume  72,   Issue  8,   1998,   Page  897-899

E. C. S. Tavares,   P. S. Pizani,   J. A. Eiras,  

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10. Rotating-compensator multichannel ellipsometry for characterization of the evolution of nonuniformities in diamond thin-film growth
  Applied Physics Letters,   Volume  72,   Issue  8,   1998,   Page  900-902

Joungchel Lee,   P. I. Rovira,   Ilsin An,   R. W. Collins,  

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