Applied Physics Letters


ISSN: 0003-6951        年代:1996
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1. An optically pumped GaN–AlGaN vertical cavity surface emitting laser
  Applied Physics Letters,   Volume  69,   Issue  1,   1996,   Page  1-3

Joan M. Redwing,   David A. S. Loeber,   Neal G. Anderson,   Michael A. Tischler,   Jeffrey S. Flynn,  

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2. Electroluminescence from Au/Si nitride film/Si with the film prepared by electron cyclotron resonance method
  Applied Physics Letters,   Volume  69,   Issue  1,   1996,   Page  4-6

A. P. Li,   Lidong Zhang,   Y. X. Zhang,   G. G. Qin,   Xin Wang,   X. W. Hu,  

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3. Controlling polarization of vertical‐cavity surface‐emitting lasers using amorphous silicon subwavelength transmission gratings
  Applied Physics Letters,   Volume  69,   Issue  1,   1996,   Page  7-9

Steven J. Schablitsky,   Lei Zhuang,   Rick C. Shi,   Stephen Y. Chou,  

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4. Laser operation of an Nd:Gd3Ga5O12thin‐film optical waveguide fabricated by pulsed laser deposition
  Applied Physics Letters,   Volume  69,   Issue  1,   1996,   Page  10-12

Devinder S. Gill,   Andrew A. Anderson,   Robert W. Eason,   T. J. Warburton,   D. P. Shepherd,  

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5. Electro‐optic properties of the organic salt 4‐N,N‐dimethylamino‐4′‐N′‐methyl‐stilbazolium tosylate
  Applied Physics Letters,   Volume  69,   Issue  1,   1996,   Page  13-15

F. Pan,   G. Kno¨pfle,   Ch. Bosshard,   S. Follonier,   R. Spreiter,   M. S. Wong,   P. Gu¨nter,  

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6. High‐speed and high‐sensitivity silicon‐on‐insulator metal‐semiconductor‐metal photodetector with trench structure
  Applied Physics Letters,   Volume  69,   Issue  1,   1996,   Page  16-18

Jacob Y. L. Ho,   K. S. Wong,  

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7. Microstructure of laterally oxidized AlxGa1−xAs layers in vertical‐cavity lasers
  Applied Physics Letters,   Volume  69,   Issue  1,   1996,   Page  19-21

R. D. Twesten,   D. M. Follstaedt,   K. D. Choquette,   R. P. Schneider,  

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8. Measurements of density fluctuations by modulation spectroscopy
  Applied Physics Letters,   Volume  69,   Issue  1,   1996,   Page  22-24

A. N. Dharamsi,   A. M. Bullock,  

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9. The effect of annealing on the structure and dielectric properties of BaxSr1−xTiO3ferroelectric thin films
  Applied Physics Letters,   Volume  69,   Issue  1,   1996,   Page  25-27

L. A. Knauss,   J. M. Pond,   J. S. Horwitz,   D. B. Chrisey,   C. H. Mueller,   Randolph Treece,  

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10. Production ofE&dgr;′center induced by dry heat treatment of nonburied SiO2films
  Applied Physics Letters,   Volume  69,   Issue  1,   1996,   Page  28-30

M. E. Zvanut,   T. L. Chen,  

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