Applied Physics Letters


ISSN: 0003-6951        年代:1990
当前卷期:Volume 57  issue 23     [ 查看所有卷期 ]

年代:1990
 
     Volume 56  issue 1   
     Volume 56  issue 2   
     Volume 56  issue 3   
     Volume 56  issue 4   
     Volume 56  issue 5   
     Volume 56  issue 6   
     Volume 56  issue 7   
     Volume 56  issue 8   
     Volume 56  issue 9   
     Volume 56  issue 10   
     Volume 56  issue 11   
     Volume 56  issue 12   
     Volume 56  issue 13   
     Volume 56  issue 14   
     Volume 56  issue 15   
     Volume 56  issue 16   
     Volume 56  issue 17   
     Volume 56  issue 18   
     Volume 56  issue 19   
     Volume 56  issue 20   
     Volume 56  issue 21   
     Volume 56  issue 22   
     Volume 56  issue 23   
     Volume 56  issue 24   
     Volume 56  issue 25   
     Volume 56  issue 26   
     Volume 57  issue 1   
     Volume 57  issue 2   
     Volume 57  issue 3   
     Volume 57  issue 4   
     Volume 57  issue 5   
     Volume 57  issue 6   
     Volume 57  issue 7   
     Volume 57  issue 8   
     Volume 57  issue 9   
     Volume 57  issue 10   
     Volume 57  issue 11   
     Volume 57  issue 12   
     Volume 57  issue 13   
     Volume 57  issue 14   
     Volume 57  issue 15   
     Volume 57  issue 16   
     Volume 57  issue 17   
     Volume 57  issue 18   
     Volume 57  issue 19   
     Volume 57  issue 20   
     Volume 57  issue 21   
     Volume 57  issue 22   
     Volume 57  issue 23
     Volume 57  issue 24   
     Volume 57  issue 25   
     Volume 57  issue 26   
     Volume 57  issue 27   
1. Optical nonlinearity of CdSe microcrystallites in a sputtered SiO2film
  Applied Physics Letters,   Volume  57,   Issue  23,   1990,   Page  2393-2395

J. Yumoto,   H. Shinojima,   N. Uesugi,   K. Tsunetomo,   H. Nasu,   Y. Osaka,  

Preview   |   PDF (324KB)

2. Single‐mode semiconductor optical waveguides with large dimensions suitable for compact bend applications
  Applied Physics Letters,   Volume  57,   Issue  23,   1990,   Page  2396-2398

R. J. Deri,   A. Shahar,   E. Colas,   R. N. Thurston,   W. J. Tomlinson,   A. Yi‐Yan,   M. Seto,  

Preview   |   PDF (345KB)

3. Picosecond all‐optical logic gate in a nonlinear organic e´talon
  Applied Physics Letters,   Volume  57,   Issue  23,   1990,   Page  2399-2401

V. S. Williams,   Z. Z. Ho,   N. Peyghambarian,   W. M. Gibbons,   R. P. Grasso,   M. K. O’Brien,   P. J. Shannon,   S. T. Sun,  

Preview   |   PDF (294KB)

4. Cavity length dependence of the wavelength of strained‐layer InGaAs/GaAs lasers
  Applied Physics Letters,   Volume  57,   Issue  23,   1990,   Page  2402-2403

T. R. Chen,   Y. H. Zhuang,   L. E. Eng,   A. Yariv,  

Preview   |   PDF (173KB)

5. Direct determination of electron mobility in photorefractive Bi12SiO20by a holographic time‐of‐flight technique
  Applied Physics Letters,   Volume  57,   Issue  23,   1990,   Page  2404-2406

J. P. Partanen,   J. M. C. Jonathan,   R. W. Hellwarth,  

Preview   |   PDF (380KB)

6. Angle‐dependent laser‐induced voltages in room‐temperature polycrystalline wafers of YBa2Cu3O7−x
  Applied Physics Letters,   Volume  57,   Issue  23,   1990,   Page  2407-2409

K. L. Tate,   E. F. Hilinski,   S. C. Foster,  

Preview   |   PDF (371KB)

7. Lasing phase diagram for semiconductor surface‐emitting lasers
  Applied Physics Letters,   Volume  57,   Issue  23,   1990,   Page  2410-2412

P. L. Gourley,  

Preview   |   PDF (389KB)

8. Room‐temperature blue lasing action in (Zn,Cd)Se/ZnSe optically pumped multiple quantum well structures on lattice‐matched (Ga,In)As substrates
  Applied Physics Letters,   Volume  57,   Issue  23,   1990,   Page  2413-2415

H. Jeon,   J. Ding,   A. V. Nurmikko,   H. Luo,   N. Samarth,   J. K. Furdyna,   W. A. Bonner,   R. E. Nahory,  

Preview   |   PDF (305KB)

9. Absorption spectroscopy on Hg+and excited Hg in Hg‐Ar discharges
  Applied Physics Letters,   Volume  57,   Issue  23,   1990,   Page  2416-2418

R. C. Wamsley,   J. E. Lawler,   J. H. Ingold,   L. Bigio,   V. D. Roberts,  

Preview   |   PDF (326KB)

10. Early stages of growth of GaAs on Si observed by scanning tunneling microscopy
  Applied Physics Letters,   Volume  57,   Issue  23,   1990,   Page  2419-2421

D. K. Biegelsen,   R. D. Bringans,   J. E. Northrup,   L. E. Swartz,  

Preview   |   PDF (435KB)

首页 上一页 下一页 尾页 第1页 共39条