AIP Conference Proceedings


ISSN: 0094-243X        年代:1991
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21. What electroluminescence and transient space charge limited current tell us about Staebler‐Wronski defects
  AIP Conference Proceedings,   Volume  234,   Issue  1,   1991,   Page  162-169

K. Wang,   D. Han,   M. Silver,  

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22. Interface states in a‐Si:H as probed by optically induced ESR
  AIP Conference Proceedings,   Volume  234,   Issue  1,   1991,   Page  170-177

J. Hautala,   P. C. Taylor,   J. Ristein,  

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23. Dependence of the saturation behaviour of the metastable defect creation on a‐Si:H material properties measured by keV electron irradiation
  AIP Conference Proceedings,   Volume  234,   Issue  1,   1991,   Page  178-185

A. Scholz,   B. Schro¨der,  

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24. Accuracy of defect densities measured by the constant photocurrent method
  AIP Conference Proceedings,   Volume  234,   Issue  1,   1991,   Page  186-194

N. W. Wang,   X. Xu,   S. Wagner,  

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25. A reduction in the Staebler‐Wronski effect observed in low H content a‐Si:H films deposited by the hot wire technique
  AIP Conference Proceedings,   Volume  234,   Issue  1,   1991,   Page  195-202

A. H. Mahan,   Milan Vanecek,  

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26. Very stable a‐Si:H prepared by ‘‘chemical annealing’’
  AIP Conference Proceedings,   Volume  234,   Issue  1,   1991,   Page  203-210

Hajime Shirai,   Jun‐ichi Hanna,   Isamu Shimizu,  

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27. A comparative study of the light‐induced defects in intrinsic amorphous and microcrystalline silicon deposited by remote plasma enhanced chemical vapor deposition
  AIP Conference Proceedings,   Volume  234,   Issue  1,   1991,   Page  211-217

M. J. Williams,   Cheng Wang,   G. Lucovsky,  

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28. Light stability of amorphous germanium
  AIP Conference Proceedings,   Volume  234,   Issue  1,   1991,   Page  218-225

R. Pla¨ttner,   E. Gu¨nzel,   G. Scheinbacher,   B. Schro¨der,  

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29. Characterization and study of light degradation effects in ECR a‐Si, Cl films
  AIP Conference Proceedings,   Volume  234,   Issue  1,   1991,   Page  226-233

C. P. Palsule,   S. Gangopadhyay,   C. Young,   T. Trost,   M. Kristiansen,  

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30. Preparation and properties of amorphous silicon films produced using electron cyclotron resonance plasma
  AIP Conference Proceedings,   Volume  234,   Issue  1,   1991,   Page  234-240

Vikram L. Dalal,   Ralph D. Knox,   B. Moradi,   A. Beckel,   S. VanZante,  

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