AIP Conference Proceedings


ISSN: 0094-243X        年代:1992
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年代:1992
 
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51. New method of H−beam diagnostics
  AIP Conference Proceedings,   Volume  287,   Issue  1,   1992,   Page  569-575

A. S. Artiomov,  

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52. Correlation method of measurements of the negative (H−,D−) ion beam parameters
  AIP Conference Proceedings,   Volume  287,   Issue  1,   1992,   Page  576-581

A. S. Artiomov,  

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53. Method and apparatus for multifunctional nonperturbative diagnostics of H−beams
  AIP Conference Proceedings,   Volume  287,   Issue  1,   1992,   Page  582-587

A. S. Artiomov,   N. G. Vaganov,   A. K. Gevorkov,   V. V. Limar,   V. P. Sidorov,  

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54. Rotational and gas temperatures in a surface conversion negative ion source
  AIP Conference Proceedings,   Volume  287,   Issue  1,   1992,   Page  588-594

M. J. de Graaf,   Z. Qing,   G. van Rooij,   M. C. M. van de Sanden,   D. C. Schram,   R. M. A. Heeren,   A. W. Kleyn,  

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55. Photodetachment measurements of the H−and D−density in a tandem multicusp ion source
  AIP Conference Proceedings,   Volume  287,   Issue  1,   1992,   Page  595-603

A. Al‐Jibouri,   W. G. Graham,  

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56. Photoneutralization of H−ion beams by polarized laser radiation
  AIP Conference Proceedings,   Volume  287,   Issue  1,   1992,   Page  604-606

V. V. Antsiferov,   V. A. Baturin,   G. I. Dremin,  

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57. The slow recovery of negative ion density after photodetachment
  AIP Conference Proceedings,   Volume  287,   Issue  1,   1992,   Page  607-615

D. A. Skinner,   C. Courteille,  

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58. Measurement of high intensity atomic and ionic beams by using method of Doppler laser spectroscopy
  AIP Conference Proceedings,   Volume  287,   Issue  1,   1992,   Page  616-617

V. V. Antsiferov,  

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59. Emittance growth in negative ion beam formation: Effects due to secondary positive ions on the extraction sheath
  AIP Conference Proceedings,   Volume  287,   Issue  1,   1992,   Page  621-633

R. G. Cowan,   J. Niemel,   R. L. Campbell,   R. J. Raridon,   J. H. Whealton,   C. Michaut,   M. Bacal,  

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60. Particle simulation on extraction of negative ions from a volume source
  AIP Conference Proceedings,   Volume  287,   Issue  1,   1992,   Page  634-645

Hiroshi Naitou,   Osamu Fukumasa,   Kouji Mutou,  

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