AIP Conference Proceedings


ISSN: 0094-243X        年代:1991
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1. Instrumentation and diagnostics used in LEP commissioning, with accent on the LEP beam orbit measurement system
  AIP Conference Proceedings,   Volume  229,   Issue  1,   1991,   Page  1-34

J. Borer,  

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2. The AGS Booster Loss Monitor System
  AIP Conference Proceedings,   Volume  229,   Issue  1,   1991,   Page  35-47

E. R. Beadle,   G. W. Bennett,  

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3. Electronics systems for beam position monitors at CEBAF
  AIP Conference Proceedings,   Volume  229,   Issue  1,   1991,   Page  48-74

W. Barry,   J. Heefner,   J. Perry,  

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4. Panel discussion on beam position monitors around the labs
  AIP Conference Proceedings,   Volume  229,   Issue  1,   1991,   Page  75-87

Scott Miller,   Jay Heefner,   Thomas J. Shea,   Robert C. Webber,   Robert E. Shafer,   Jean Borer,  

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5. Wire scanner systems for beam size and emittance measurements at SLC
  AIP Conference Proceedings,   Volume  229,   Issue  1,   1991,   Page  88-106

M. C. Ross,  

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6. Ion profile monitors using microchannel plates
  AIP Conference Proceedings,   Volume  229,   Issue  1,   1991,   Page  107-107

John Krider,  

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7. Schottky signal monitoring at Fermilab
  AIP Conference Proceedings,   Volume  229,   Issue  1,   1991,   Page  108-130

D. W. Peterson,  

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8. Panel discussion on Where does the instrumentation engineer’s function end and that of the computer engineer begin?
  AIP Conference Proceedings,   Volume  229,   Issue  1,   1991,   Page  131-150

Scott Miller,   Jean Borer,   Gerald P. Jackson,   Peter W. Lucas,   Richard Witkover,   Gergory Stover,   Marc Ross,   John Perry,  

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9. Advanced, time‐resolved imaging techniques for electron‐beam characterizations
  AIP Conference Proceedings,   Volume  229,   Issue  1,   1991,   Page  151-179

Alex H. Lumpkin,  

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10. Fiber optic links for instrumentation
  AIP Conference Proceedings,   Volume  229,   Issue  1,   1991,   Page  180-194

Ralph J. Pasquinelli,  

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