| 1. |
Der Einfluß thermischer und mechanischer Behandlung auf die Defektstruktur von Korund‐Einkristallen |
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Kristall und Technik,
Volume 6,
Issue 3,
1971,
Page 33-37
E. R. Dobrovinskaja,
L. A. Litvinov,
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PDF (205KB)
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ISSN:0023-4753
DOI:10.1002/crat.19710060316
出版商:WILEY‐VCH Verlag
年代:1971
数据来源: WILEY
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| 2. |
Zur Temperaturabhängigkeit der Si‐Wachstumsrate auf Si‐ sowie Mg‐Al‐Spinellsubstraten bei der Pyrolyse von SiH4 |
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Kristall und Technik,
Volume 6,
Issue 3,
1971,
Page 39-41
E. Schöne,
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PDF (119KB)
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ISSN:0023-4753
DOI:10.1002/crat.19710060317
出版商:WILEY‐VCH Verlag
年代:1971
数据来源: WILEY
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| 3. |
Die Temperaturabhängigkeit der Kationenverteilung bei inversen Spinellen |
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Kristall und Technik,
Volume 6,
Issue 3,
1971,
Page 43-45
D. R. Petzold,
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PDF (116KB)
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ISSN:0023-4753
DOI:10.1002/crat.19710060318
出版商:WILEY‐VCH Verlag
年代:1971
数据来源: WILEY
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| 4. |
H. S. Lipson. Crystals and X‐rays. 198 Seiten London und Winchester 1970; Wykeham Publikations (London) Ltd. |
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Kristall und Technik,
Volume 6,
Issue 3,
1971,
Page 47-47
J. Bohm,
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PDF (50KB)
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ISSN:0023-4753
DOI:10.1002/crat.19710060319
出版商:WILEY‐VCH Verlag
年代:1971
数据来源: WILEY
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| 5. |
W. Bollmann. Crystal Defects and Crystalline Interfaces. 158 Figuren und ein Satz moiré‐Modelle. XI, 254 Seiten. Berlin‐Heidelberg‐New‐York: Springer‐Verlag 1970 |
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Kristall und Technik,
Volume 6,
Issue 3,
1971,
Page 49-49
O. Brümmer,
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PDF (50KB)
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ISSN:0023-4753
DOI:10.1002/crat.19710060320
出版商:WILEY‐VCH Verlag
年代:1971
数据来源: WILEY
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| 6. |
B. L. Sharma. Diffusion in Semiconduktors. Trans Tech Publications, Clausthal‐Zellerfeld, Germany, (BRD) 1970, 200 Seiten, zahlreiche Tabellen und Literaturzitate Broschiert 9, 80 U.$ |
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Kristall und Technik,
Volume 6,
Issue 3,
1971,
Page 51-51
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PDF (57KB)
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ISSN:0023-4753
DOI:10.1002/crat.19710060321
出版商:WILEY‐VCH Verlag
年代:1971
数据来源: WILEY
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| 7. |
A. Haug. Theoretische Festkörperphysik. Band II, Verlag Franz Deuticke, Wien 1970 368 Seiten 23 Abbildungen im Text, Literatur, Bezeichnungen und Zahlenwerte, Sachregister für Bd. I. u. II |
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Kristall und Technik,
Volume 6,
Issue 3,
1971,
Page 53-53
M. Schulz,
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PDF (65KB)
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ISSN:0023-4753
DOI:10.1002/crat.19710060322
出版商:WILEY‐VCH Verlag
年代:1971
数据来源: WILEY
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| 8. |
G. Schimmel. Elektronenmikroskopische methodik, Springer‐Verlag, Berlin‐Heidelberg‐New York 1969, VIII, 243 Seiten 4°, 134 Abb. in 249 Einzeldarstellungen, gebunden DM 78,— |
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Kristall und Technik,
Volume 6,
Issue 3,
1971,
Page 55-56
Dietrich Schulze,
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PDF (104KB)
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ISSN:0023-4753
DOI:10.1002/crat.19710060323
出版商:WILEY‐VCH Verlag
年代:1971
数据来源: WILEY
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| 9. |
Zum augenblicklichen Stand und den Entwicklungstendenzen auf dem Texturgebiet |
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Kristall und Technik,
Volume 6,
Issue 3,
1971,
Page 325-334
habil. H. J. Bunge,
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PDF (648KB)
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ISSN:0023-4753
DOI:10.1002/crat.19710060302
出版商:WILEY‐VCH Verlag
年代:1971
数据来源: WILEY
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| 10. |
A contribution to the study of the influence of impurities on the growth and some physical properties of TGS single crystals |
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Kristall und Technik,
Volume 6,
Issue 3,
1971,
Page 335-342
F. Moravec,
J. Novotný,
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PDF (467KB)
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摘要:
AbstractSingle crystals of TGS doped with Ni2+, Cu2+and Fe3+have been prepared under identical conditions by the method of temperature decrease (below the phase transition point). Presentation of the influence of impurities on the development of individual crystal faces is based on goniometric measurements. The influence of impurities on the domain structure of TGS is documented by microphotographs of domain structures and by investigation of the variation with time of the average domain width. It is shown that the distribution of impurities (between the liquid and solid phases) is approximately proportional to the concentrations of metal glycino chelates in the solution. From the results concerning the influence of impurities on various physical properties follows that the degree to which the properties are affected depends not only on the impurity concentration but also on the specific intensity of their action which is due to variations in the binding forces in the structure of TGS.
ISSN:0023-4753
DOI:10.1002/crat.19710060303
出版商:WILEY‐VCH Verlag
年代:1971
数据来源: WILEY
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