Journal of Applied Physics


ISSN: 0021-8979        年代:1997
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11. Experimental and theoretical study of dissociation in the positive column of a hydrogen glow discharge
  Journal of Applied Physics,   Volume  82,   Issue  6,   1997,   Page  2795-2804

J. Amorim,   J. Loureiro,   G. Baravian,   M. Touzeau,  

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12. Argon metastable densities in radio frequency Ar,Ar/O2andAr/CF4electrical discharges
  Journal of Applied Physics,   Volume  82,   Issue  6,   1997,   Page  2805-2813

Shahid Rauf,   Mark J. Kushner,  

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13. Characterization of pulse-modulated inductively coupled plasmas in argon and chlorine
  Journal of Applied Physics,   Volume  82,   Issue  6,   1997,   Page  2814-2821

G. A. Hebner,   C. B. Fleddermann,  

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14. Enhanced energy loss of short pulses of electrons in plasma
  Journal of Applied Physics,   Volume  82,   Issue  6,   1997,   Page  2822-2825

R. D. Fulton,   J. C. Goldstein,   M. E. Jones,   J. M. Kinross-Wright,   S. H. Kong,   D. C. Nguyen,  

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15. Shock waves from a water-confined laser-generated plasma
  Journal of Applied Physics,   Volume  82,   Issue  6,   1997,   Page  2826-2832

L. Berthe,   R. Fabbro,   P. Peyre,   L. Tollier,   E. Bartnicki,  

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16. Elastic properties of zinc-blende and wurtzite AlN, GaN, and InN
  Journal of Applied Physics,   Volume  82,   Issue  6,   1997,   Page  2833-2839

A. F. Wright,  

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17. Shock wave initiation of theTi5Si3reaction in elemental powders
  Journal of Applied Physics,   Volume  82,   Issue  6,   1997,   Page  2840-2844

T. Vreeland,   K. L. Montilla,   A. H. Mutz,  

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18. Dynamic analysis of the response of lateral piezoresistance gauges in shocked ceramics
  Journal of Applied Physics,   Volume  82,   Issue  6,   1997,   Page  2845-2854

R. Feng,   Y. M. Gupta,   M. K. W. Wong,  

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19. Transient enhanced diffusion of boron in presence of end-of-range defects
  Journal of Applied Physics,   Volume  82,   Issue  6,   1997,   Page  2855-2861

C. Bonafos,   M. Omri,   B. de Mauduit,   G. BenAssayag,   A. Claverie,   D. Alquier,   A. Martinez,   D. Mathiot,  

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20. Effects of the defect structure on hydrogen transport in amorphous silicon
  Journal of Applied Physics,   Volume  82,   Issue  6,   1997,   Page  2862-2868

S. Acco,   W. Beyer,   E. E. van Faassen,   W. F. van der Weg,  

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