Journal of Applied Physics


ISSN: 0021-8979        年代:1997
当前卷期:Volume 82  issue 1     [ 查看所有卷期 ]

年代:1997
 
     Volume 81  issue 1   
     Volume 81  issue 2   
     Volume 81  issue 3   
     Volume 81  issue 4   
     Volume 81  issue 5   
     Volume 81  issue 6   
     Volume 81  issue 7   
     Volume 81  issue 8   
     Volume 81  issue 9   
     Volume 81  issue 10   
     Volume 81  issue 11   
     Volume 81  issue 12   
     Volume 82  issue 1
     Volume 82  issue 2   
     Volume 82  issue 3   
     Volume 82  issue 4   
     Volume 82  issue 5   
     Volume 82  issue 6   
     Volume 82  issue 7   
     Volume 82  issue 8   
     Volume 82  issue 9   
     Volume 82  issue 10   
     Volume 82  issue 11   
     Volume 82  issue 12   
11. Photothermal radiometry of infrared translucent materials
  Journal of Applied Physics,   Volume  82,   Issue  1,   1997,   Page  101-106

S. Paoloni,   H. G. Walther,  

Preview   |   PDF (109KB)

12. A limit of validity of the straight line hypothesis in shaped charge jet formation modeling
  Journal of Applied Physics,   Volume  82,   Issue  1,   1997,   Page  107-111

J. P. Curtis,   R. J. Kelly,  

Preview   |   PDF (79KB)

13. The breakdown and glow phases during the initiation of discharges for lamps
  Journal of Applied Physics,   Volume  82,   Issue  1,   1997,   Page  112-119

L. C. Pitchford,   I. Pe´re`s,   K. B. Liland,   J. P. Boeuf,   H. Gielen,  

Preview   |   PDF (240KB)

14. Evolution from point to extended defects in ion implanted silicon
  Journal of Applied Physics,   Volume  82,   Issue  1,   1997,   Page  120-125

J. L. Benton,   S. Libertino,   P. Kringho&slash;j,   D. J. Eaglesham,   J. M. Poate,   S. Coffa,  

Preview   |   PDF (415KB)

15. Bulk damage effects in irradiated silicon detectors due to clustered divacancies
  Journal of Applied Physics,   Volume  82,   Issue  1,   1997,   Page  126-136

K. Gill,   G. Hall,   B. MacEvoy,  

Preview   |   PDF (218KB)

16. The infrared vibrational absorption spectrum of the Si–Xdefect present in heavily Si doped GaAs
  Journal of Applied Physics,   Volume  82,   Issue  1,   1997,   Page  137-141

M. J. Ashwin,   R. C. Newman,   K. Muraki,  

Preview   |   PDF (84KB)

17. Broadening of x-ray powder diffraction lines under nonhydrostatic stress
  Journal of Applied Physics,   Volume  82,   Issue  1,   1997,   Page  142-146

Nobumasa Funamori,   Miho Funamori,   Raymond Jeanloz,   Nozomu Hamaya,  

Preview   |   PDF (122KB)

18. X-ray diffraction and x-ray photoelectron spectroscopy study of partially strained SiGe layers produced via excimer laser processing
  Journal of Applied Physics,   Volume  82,   Issue  1,   1997,   Page  147-154

S. Martelli,   I. Vianey,   R. Larciprete,   E. Borsella,   J. Castro,   S. Chiussi,   B. Leo´n,  

Preview   |   PDF (177KB)

19. Structural changes of the metallic glassZr65Al7.5Cu27.5during glass transition and in the undercooled liquid region
  Journal of Applied Physics,   Volume  82,   Issue  1,   1997,   Page  155-162

H. Schumacher,   U. Herr,   D. Oelgeschlaeger,   A. Traverse,   K. Samwer,  

Preview   |   PDF (164KB)

20. Rayleigh–Taylor stability criteria for elastic-plastic solid plates and shells
  Journal of Applied Physics,   Volume  82,   Issue  1,   1997,   Page  163-170

E. L. Ruden,   D. E. Bell,  

Preview   |   PDF (183KB)

首页 上一页 下一页 尾页 第2页 共78条