Journal of Applied Physics


ISSN: 0021-8979        年代:1990
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年代:1990
 
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111. Coupling‐loss‐arrested misaligned semiconductor laser arrays
  Journal of Applied Physics,   Volume  68,   Issue  7,   1990,   Page  3756-3758

Zheng Wang,   Guotong Du,   Dingsan Gao,  

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112. Comments on ‘‘Measurements of minority‐carrier diffusion length inn‐CuInSe2by electron‐beam‐induced current method’’ [J. Appl. Phys.66, 5412 (1989)]
  Journal of Applied Physics,   Volume  68,   Issue  7,   1990,   Page  3759-3759

Keung L. Luke,  

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113. Reply to ‘‘Comments on ‘Measurements of minority‐carrier diffusion length inn‐CuInSe2by electron‐beam‐induced current method’ ’’ [J. Appl. Phys.66, 5412 (1989)]
  Journal of Applied Physics,   Volume  68,   Issue  7,   1990,   Page  3760-3760

R. Scheer,   H. J. Lewerenz,  

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114. Comment on ‘‘Lateral restoring force on a magnet levitated above a superconductor’’ [J. Appl. Phys.67, 2631 (1990)]
  Journal of Applied Physics,   Volume  68,   Issue  7,   1990,   Page  3761-3762

Z. J. Yang,   T. H. Johansen,   H. Bratsberg,   G. Helgesen,   A. T. Skjeltorp,  

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115. Dual implants in InGaAs
  Journal of Applied Physics,   Volume  68,   Issue  7,   1990,   Page  3763-3765

Mulpuri V. Rao,   F. Moore,   H. B. Dietrich,  

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116. Migration of Si in molecular‐beam epitaxial growth of &dgr;‐doped GaAs and Al0.25Ga0.75As
  Journal of Applied Physics,   Volume  68,   Issue  7,   1990,   Page  3766-3768

Ph. Jansen,   M. Meuris,   M. Van Rossum,   G. Borghs,  

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117. The influence of bias power levels on mark length variability in rare earth–transition metal optical data storage media
  Journal of Applied Physics,   Volume  68,   Issue  7,   1990,   Page  3769-3771

Brian J. Bartholomeusz,   David J. Genova,   Tukaram K. Hatwar,  

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118. Transport and magnetic properties of high‐TcYBa2Cu3O7−xfilms
  Journal of Applied Physics,   Volume  68,   Issue  7,   1990,   Page  3772-3774

D. W. Chung,   I. Maartense,   T. L. Peterson,   P. M. Hemenger,  

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119. Determination of critical current density and transition temperature of YBa2Cu3O7−xthin films by measurement of ac susceptibility
  Journal of Applied Physics,   Volume  68,   Issue  7,   1990,   Page  3775-3777

Yi‐Qun Li,   Dongwook Noh,   Bernard Gallois,   Gary S. Tompa,   Peter E. Norris,   Peter A. Zawadzki,  

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120. Submicron structuring of YBa2Cu3O7thin films with electron beam lithography
  Journal of Applied Physics,   Volume  68,   Issue  7,   1990,   Page  3778-3779

W. Albrecht,   W. Langheinrich,   H. Kurz,   U. Poppe,   H. Soltner,   J. Schubert,  

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