Journal of Applied Physics


ISSN: 0021-8979        年代:1992
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21. Some phenomenological relaxation rate equations based on Bose–Einstein similar kinetics
  Journal of Applied Physics,   Volume  72,   Issue  11,   1992,   Page  5179-5186

Michael J. Kuba´t,   Jan‐Fredrik Jansson,   Mats Delin,   Josef Kuba´t,   Rodney W. Rychwalski,   Sven Uggla,  

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22. Dependence of the x‐ray photoacoustic signal intensity of copper on sample thickness and modulation frequency
  Journal of Applied Physics,   Volume  72,   Issue  11,   1992,   Page  5187-5189

Taro Toyoda,   T. Masujima,   H. Shiwaku,   M. Ando,  

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23. Activation mechanism of implanted boron in a Si substrate
  Journal of Applied Physics,   Volume  72,   Issue  11,   1992,   Page  5190-5194

M. H. Juang,   H. C. Cheng,  

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24. Activation volume for the interdiffusion of Ag‐Au multilayers
  Journal of Applied Physics,   Volume  72,   Issue  11,   1992,   Page  5195-5205

S. K. Wonnell,   J. M. Delaye,   M. Bibole´,   Y. Limoge,  

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25. Disordering in69GaAs/71GaAs isotope superlattice structures
  Journal of Applied Physics,   Volume  72,   Issue  11,   1992,   Page  5206-5212

T. Y. Tan,   H. M. You,   S. Yu,   U. M. Go¨sele,   W. Ja¨ger,   D. W. Boeringer,   F. Zypman,   R. Tsu,   S.‐T. Lee,  

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26. Calculation of stresses in InxGa1−xAs/InP strained multilayer heterostructures
  Journal of Applied Physics,   Volume  72,   Issue  11,   1992,   Page  5213-5219

Kazuo Nakajima,  

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27. Structural studies on highly ordered and highly conductive thin films of pentacene
  Journal of Applied Physics,   Volume  72,   Issue  11,   1992,   Page  5220-5225

Takashi Minakata,   Hideaki Imai,   Masaru Ozaki,   Kentaro Saco,  

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28. Initial stages of the formation of the Au/GaAs(001) interface: A low‐energy ion scattering study
  Journal of Applied Physics,   Volume  72,   Issue  11,   1992,   Page  5226-5232

Robert M. Charatan,   R. Stanley Williams,  

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29. Metalorganic molecular beam epitaxial growth and characterization of CdSe/ZnSe strained‐layer single quantum wells and superlattices on GaAs substrates
  Journal of Applied Physics,   Volume  72,   Issue  11,   1992,   Page  5233-5239

Shizuo Fujita,   Yi‐hong Wu,   Yoichi Kawakami,   Shigeo Fujita,  

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30. Diffraction characterization of totally relaxed, partially relaxed, and unrelaxed semiconductor strained‐layer superlattices
  Journal of Applied Physics,   Volume  72,   Issue  11,   1992,   Page  5240-5245

X. F. Duan,   K. K. Fung,  

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