Journal of Applied Physics


ISSN: 0021-8979        年代:1980
当前卷期:Volume 51  issue 6     [ 查看所有卷期 ]

年代:1980
 
     Volume 51  issue 1   
     Volume 51  issue 2   
     Volume 51  issue 3   
     Volume 51  issue 4   
     Volume 51  issue 5   
     Volume 51  issue 6
     Volume 51  issue 7   
     Volume 51  issue 8   
     Volume 51  issue 9   
     Volume 51  issue 10   
     Volume 51  issue 11   
     Volume 51  issue 12   
31. Analysis of the anode boundary layer of high intensity arcs
  Journal of Applied Physics,   Volume  51,   Issue  6,   1980,   Page  3149-3157

H. A. Dinulescu,   E. Pfender,  

Preview   |   PDF (698KB)

32. Extended x‐ray absorption fine structure of NaBr and Ge at high pressure
  Journal of Applied Physics,   Volume  51,   Issue  6,   1980,   Page  3158-3163

R. Ingalls,   E. D. Crozier,   J. E. Whitmore,   A. J. Seary,   J. M. Tranquada,  

Preview   |   PDF (410KB)

33. Ultrasonic assessment of cumulative internal damage in filled polymers (II)
  Journal of Applied Physics,   Volume  51,   Issue  6,   1980,   Page  3164-3170

G. C. Knollman,   R. H. Martinson,   J. L. Bellin,  

Preview   |   PDF (514KB)

34. Influence of growth parameters on CdTe low temperature thermal conductivity
  Journal of Applied Physics,   Volume  51,   Issue  6,   1980,   Page  3171-3174

J. Jouglar,   C. Hetroit,   P. L. Vuillermoz,   R. Triboulet,  

Preview   |   PDF (297KB)

35. Gallium arsenide transferred‐electron devices by low‐level ion implantation
  Journal of Applied Physics,   Volume  51,   Issue  6,   1980,   Page  3175-3177

W. T. Anderson,   H. B. Dietrich,   E. W. Swiggard,   S. H. Lee,   M. L. Bark,  

Preview   |   PDF (248KB)

36. Doping of semi‐insulating andn‐type GaAs by neutron transmutation
  Journal of Applied Physics,   Volume  51,   Issue  6,   1980,   Page  3178-3180

J.‐E. Mueller,   W. Kellner,   H. Kniepkamp,   E. W. Haas,   G. Fischer,  

Preview   |   PDF (186KB)

37. X‐ray study of lattice strain in boron implanted laser annealed silicon
  Journal of Applied Physics,   Volume  51,   Issue  6,   1980,   Page  3181-3185

B. C. Larson,   J. F. Barhorst,  

Preview   |   PDF (388KB)

38. Anisotropic elastic interaction between misfit defects and extended screw dislocations in fcc metals
  Journal of Applied Physics,   Volume  51,   Issue  6,   1980,   Page  3186-3193

M. S. Bapna,   V. R. Parameswaran,  

Preview   |   PDF (522KB)

39. High‐temperature H2anneal of interface defects in electron‐beam‐irradiated MNOS structures
  Journal of Applied Physics,   Volume  51,   Issue  6,   1980,   Page  3194-3197

G. A. Schols,   H. E. Maes,   R. J. Van Overstraeten,  

Preview   |   PDF (280KB)

40. Blistering of molybdenum‐base alloy TZM under helium ion bombardment
  Journal of Applied Physics,   Volume  51,   Issue  6,   1980,   Page  3198-3201

John G. Daly,   M. K. Sinha,  

Preview   |   PDF (373KB)

首页 上一页 下一页 尾页 第4页 共89条