Journal of Applied Physics


ISSN: 0021-8979        年代:1995
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年代:1995
 
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51. Effects of buffer layers in epitaxial growth of SrTiO3thin film on Si(100)
  Journal of Applied Physics,   Volume  78,   Issue  12,   1995,   Page  7226-7230

Osamu Nakagawara,   Masato Kobayashi,   Yukio Yoshino,   Yuˆzoˆ Katayama,   Hitoshi Tabata,   Tomoji Kawai,  

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52. Pyrochlore based oxides with high dielectric constant and low temperature coefficient
  Journal of Applied Physics,   Volume  78,   Issue  12,   1995,   Page  7231-7233

R. J. Cava,   W. F. Peck,   J. J. Krajewski,  

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53. Pyroelectric, dielectric, and piezoelectric properties of LiB3O5
  Journal of Applied Physics,   Volume  78,   Issue  12,   1995,   Page  7234-7239

Ruyan Guo,   Steven A. Markgraf,   Yasunori Furukawa,   Masayoshi Sato,   Amar S. Bhalla,  

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54. Bounds on the complex permittivity of matrix–particle composites
  Journal of Applied Physics,   Volume  78,   Issue  12,   1995,   Page  7240-7246

Romuald Sawicz,   Kenneth Golden,  

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55. Threshold of stimulated emission in multivalley lead salts
  Journal of Applied Physics,   Volume  78,   Issue  12,   1995,   Page  7247-7254

J. W. Tomm,   M. Mocker,   T. Kelz,   T. Elsaesser,   R. Klann,   B. V. Novikov,   V. G. Talalaev,   V. E. Tudorovskii,   H. Bo¨ttner,  

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56. Infrared dielectric constant of cubic SiC
  Journal of Applied Physics,   Volume  78,   Issue  12,   1995,   Page  7255-7258

W. J. Moore,   R. T. Holm,   M. J. Yang,   J. A. Freitas,  

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57. The influence of space charge and electric field on the excitation efficiency in thin film electroluminescent devices
  Journal of Applied Physics,   Volume  78,   Issue  12,   1995,   Page  7259-7264

D. Corlatan,   K. A. Neyts,   P. De Visschere,  

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58. Raman scattering from longitudinal‐optical phonon‐plasmon‐coupled mode in carbon‐dopedp‐type InGaAs
  Journal of Applied Physics,   Volume  78,   Issue  12,   1995,   Page  7265-7268

Ming Qi,   Makoto Konagai,   Kiyoshi Takahashi,  

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59. Characterization of thin amorphous silicon films with multiple internal reflectance spectroscopy
  Journal of Applied Physics,   Volume  78,   Issue  12,   1995,   Page  7269-7276

Giuseppe Fameli,   Dario della Sala,   Francesco Roca,   Francesco Pascarella,   Pietro Grillo,  

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60. Characterization of GaAs/GaAsP quantum wire structures fabricated by atomic layer epitaxy
  Journal of Applied Physics,   Volume  78,   Issue  12,   1995,   Page  7277-7281

Hideo Isshiki,   Yoshinobu Aoyagi,   Takuo Sugano,   Sohachi Iwai,   Takashi Meguro,  

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