Journal of Applied Physics


ISSN: 0021-8979        年代:1986
当前卷期:Volume 59  issue 7     [ 查看所有卷期 ]

年代:1986
 
     Volume 59  issue 1   
     Volume 59  issue 2   
     Volume 59  issue 3   
     Volume 59  issue 4   
     Volume 59  issue 5   
     Volume 59  issue 6   
     Volume 59  issue 7
     Volume 59  issue 8   
     Volume 59  issue 9   
     Volume 59  issue 10   
     Volume 59  issue 11   
     Volume 59  issue 12   
     Volume 60  issue 1   
     Volume 60  issue 2   
     Volume 60  issue 3   
     Volume 60  issue 4   
     Volume 60  issue 5   
     Volume 60  issue 6   
     Volume 60  issue 7   
     Volume 60  issue 8   
     Volume 60  issue 9   
     Volume 60  issue 10   
     Volume 60  issue 11   
     Volume 60  issue 12   
51. Band‐structure dependence of impact ionization rate in GaAs
  Journal of Applied Physics,   Volume  59,   Issue  7,   1986,   Page  2595-2596

K. Kim,   K. Kahen,   J. P. Leburton,   K. Hess,  

Preview   |   PDF (126KB)

52. Erratum: ‘‘Acoustic microscopy of materials and surface layers’’ [J. Appl. Phys.55, 3261 (1984)]
  Journal of Applied Physics,   Volume  59,   Issue  7,   1986,   Page  2597-2597

R. G. Wilson,   R. D. Weglein,  

Preview   |   PDF (55KB)

首页 上一页 下一页 尾页 第6页 共52条