Journal of Applied Physics


ISSN: 0021-8979        年代:1997
当前卷期:Volume 82  issue 7     [ 查看所有卷期 ]

年代:1997
 
     Volume 81  issue 1   
     Volume 81  issue 2   
     Volume 81  issue 3   
     Volume 81  issue 4   
     Volume 81  issue 5   
     Volume 81  issue 6   
     Volume 81  issue 7   
     Volume 81  issue 8   
     Volume 81  issue 9   
     Volume 81  issue 10   
     Volume 81  issue 11   
     Volume 81  issue 12   
     Volume 82  issue 1   
     Volume 82  issue 2   
     Volume 82  issue 3   
     Volume 82  issue 4   
     Volume 82  issue 5   
     Volume 82  issue 6   
     Volume 82  issue 7
     Volume 82  issue 8   
     Volume 82  issue 9   
     Volume 82  issue 10   
     Volume 82  issue 11   
     Volume 82  issue 12   
71. Influence of the spatial extent of the most probable potential well on the distribution of electronic states in disordered semiconductors
  Journal of Applied Physics,   Volume  82,   Issue  7,   1997,   Page  3624-3626

Stephen K. O’Leary,   P. K. Lim,  

Preview   |   PDF (66KB)

72. Improved model of radiation damage to silicon solar cells
  Journal of Applied Physics,   Volume  82,   Issue  7,   1997,   Page  3627-3629

S. J. Taylor,   M. Yamaguchi,   M. Imaizumi,   T. Ito,  

Preview   |   PDF (142KB)

73. Addendum: Deep emission band at GaInP/GaAs interface
  Journal of Applied Physics,   Volume  82,   Issue  7,   1997,   Page  3630-3632

S. H. Kwok,   P. Y. Yu,   K. Uchida,   T. Arai,  

Preview   |   PDF (52KB)

首页 上一页 下一页 尾页 第8页 共73条