Journal of Applied Physics


ISSN: 0021-8979        年代:1985
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1. Model line‐shape analysis for the rubyRlines used for pressure measurement
  Journal of Applied Physics,   Volume  57,   Issue  2,   1985,   Page  165-169

R. G. Munro,   G. J. Piermarini,   S. Block,   W. B. Holzapfel,  

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2. Nonlinear quasi‐fracture behavior of polymers
  Journal of Applied Physics,   Volume  57,   Issue  2,   1985,   Page  170-174

B. N. Sun,   C. C. Hsiao,  

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3. Influence of the surface interaction on threshold values in the cholesteric‐nematic phase transition
  Journal of Applied Physics,   Volume  57,   Issue  2,   1985,   Page  175-179

H. A. van Sprang,   J. L. M. van de Venne,  

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4. Formation of amorphous layers by ion implantation
  Journal of Applied Physics,   Volume  57,   Issue  2,   1985,   Page  180-185

S. Prussin,   David I. Margolese,   Richard N. Tauber,  

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5. Alignment of nematic liquid crystals by inhomogeneous surfaces
  Journal of Applied Physics,   Volume  57,   Issue  2,   1985,   Page  186-192

Hiap Liew Ong,   Alan J. Hurd,   Robert B. Meyer,  

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6. Unified theory of kink dragging with a special reference to the flow stress and the Snoek–Ko¨ster relaxation in anisotropic body‐centered‐cubic metals with heavy interstitials
  Journal of Applied Physics,   Volume  57,   Issue  2,   1985,   Page  193-210

Tarik O¨. Ogurtani,   Alfred K. Seeger,  

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7. Strain in evaporated Nb thin films
  Journal of Applied Physics,   Volume  57,   Issue  2,   1985,   Page  211-215

Masanori Murakami,   Tadashi Yogi,  

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8. Stress in silicon at Si3N4/SiO2film edges and viscoelastic behavior of SiO2films
  Journal of Applied Physics,   Volume  57,   Issue  2,   1985,   Page  216-223

Seiichi Isomae,  

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9. A structure marker study for Pd2Si formation: Pd moves in epitaxial Pd2Si
  Journal of Applied Physics,   Volume  57,   Issue  2,   1985,   Page  224-226

C.‐D. Lien,   M‐A. Nicolet,   C. S. Pai,  

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10. An inert marker study for palladium silicide formation: Si moves in polycrystalline Pd2Si
  Journal of Applied Physics,   Volume  57,   Issue  2,   1985,   Page  227-231

K. T. Ho,   C.‐D. Lien,   U. Shreter,   M‐A. Nicolet,  

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