Journal of Applied Physics


ISSN: 0021-8979        年代:1986
当前卷期:Volume 59  issue 9     [ 查看所有卷期 ]

年代:1986
 
     Volume 59  issue 1   
     Volume 59  issue 2   
     Volume 59  issue 3   
     Volume 59  issue 4   
     Volume 59  issue 5   
     Volume 59  issue 6   
     Volume 59  issue 7   
     Volume 59  issue 8   
     Volume 59  issue 9
     Volume 59  issue 10   
     Volume 59  issue 11   
     Volume 59  issue 12   
     Volume 60  issue 1   
     Volume 60  issue 2   
     Volume 60  issue 3   
     Volume 60  issue 4   
     Volume 60  issue 5   
     Volume 60  issue 6   
     Volume 60  issue 7   
     Volume 60  issue 8   
     Volume 60  issue 9   
     Volume 60  issue 10   
     Volume 60  issue 11   
     Volume 60  issue 12   
1. A novel perturbation approach to dielectric measurements
  Journal of Applied Physics,   Volume  59,   Issue  9,   1986,   Page  3013-3016

R. J. Deri,  

Preview   |   PDF (305KB)

2. Diagnostic methods for investigation of collective ion acceleration
  Journal of Applied Physics,   Volume  59,   Issue  9,   1986,   Page  3017-3022

M. Markovits,   A. E. Blaugrund,  

Preview   |   PDF (581KB)

3. Lasing mechanism of type‐I’PbSnTe–PbTeSe multiquantum well laser with doping structure
  Journal of Applied Physics,   Volume  59,   Issue  9,   1986,   Page  3023-3027

Akihiro Ishida,   Hiroshi Fujiyasu,   Hiroji Ebe,   Koji Shinohara,  

Preview   |   PDF (377KB)

4. A zooming lens for acoustic microscopy applications
  Journal of Applied Physics,   Volume  59,   Issue  9,   1986,   Page  3028-3032

B. Nongaillard,   J. M. Rouvaen,   P. Logette,   E. Bridoux,   R. Torguet,  

Preview   |   PDF (375KB)

5. A modification of the mixing length approach to turbulent transport
  Journal of Applied Physics,   Volume  59,   Issue  9,   1986,   Page  3033-3037

S. Simons,  

Preview   |   PDF (439KB)

6. Application of a gas tunnel to high‐energy‐density plasma beams
  Journal of Applied Physics,   Volume  59,   Issue  9,   1986,   Page  3038-3044

Yoshiaki Arata,   Akira Kobayashi,  

Preview   |   PDF (583KB)

7. Point‐to‐plane corona: Current‐voltage characteristics for positive and negative polarity with evidence of an electronic component
  Journal of Applied Physics,   Volume  59,   Issue  9,   1986,   Page  3045-3049

G. F. Leal Ferreira,   O. N. Oliveira,   J. A. Giacometti,  

Preview   |   PDF (371KB)

8. Soft x‐ray emission from &ohgr;0, 2&ohgr;0, and 4&ohgr;0laser‐produced plasmas
  Journal of Applied Physics,   Volume  59,   Issue  9,   1986,   Page  3050-3052

R. Kodama,   K. Okada,   N. Ikeda,   M. Mineo,   K. A. Tanaka,   T. Mochizuki,   C. Yamanaka,  

Preview   |   PDF (287KB)

9. Rutherford backscattering studies of plasma‐etched silicon
  Journal of Applied Physics,   Volume  59,   Issue  9,   1986,   Page  3053-3062

Gottlieb S. Oehrlein,  

Preview   |   PDF (893KB)

10. Particle trajectories from simulation of a relativistic electron pinch diode
  Journal of Applied Physics,   Volume  59,   Issue  9,   1986,   Page  3063-3072

A. D. Turnbull,   Y. Maron,   J. P. Quintenz,  

Preview   |   PDF (835KB)

首页 上一页 下一页 尾页 第1页 共50条