Journal of Applied Physics


ISSN: 0021-8979        年代:1992
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1. The effect of field‐dependent heat capacity on the characteristics of the ferromagnetic Ericsson refrigeration cycle
  Journal of Applied Physics,   Volume  72,   Issue  1,   1992,   Page  1-5

Zijun Yan,   Jincan Chen,  

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2. A detailed analysis of the optical beam deflection technique for use in atomic force microscopy
  Journal of Applied Physics,   Volume  72,   Issue  1,   1992,   Page  6-12

Constant A. J. Putman,   Bart G. De Grooth,   Niek F. Van Hulst,   Jan Greve,  

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3. Energy distribution and formation mechanism of fast atoms in a fast atom beam
  Journal of Applied Physics,   Volume  72,   Issue  1,   1992,   Page  13-17

Fusao Shimokawa,   Hiroki Kuwano,  

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4. Thermal stresses in double‐coated optical fibers at low temperature
  Journal of Applied Physics,   Volume  72,   Issue  1,   1992,   Page  18-23

Sham‐Tsong Shiue,   Sanboh Lee,  

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5. Nonlinear couplers composed of different nonlinear cores
  Journal of Applied Physics,   Volume  72,   Issue  1,   1992,   Page  24-27

Javid Atai,   Yijiang Chen,  

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6. Numerical computation of higher‐order chromatic aberrations for rotationally symmetric electrostatic lenses
  Journal of Applied Physics,   Volume  72,   Issue  1,   1992,   Page  28-32

Zhixiong Liu,   Jiye Ximen,  

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7. Electron energy distributions in electron cyclotron resonance discharges for materials processing
  Journal of Applied Physics,   Volume  72,   Issue  1,   1992,   Page  33-42

Yilin Weng,   Mark J. Kushner,  

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8. Deposition mechanism of hydrogenated hard‐carbon films in a CH4rf discharge plasma
  Journal of Applied Physics,   Volume  72,   Issue  1,   1992,   Page  43-53

Nobuki Mutsukura,   Shin‐ichi Inoue,   Yoshio Machi,  

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9. Characterization of thin, doped silicon single crystals by x‐ray diffraction
  Journal of Applied Physics,   Volume  72,   Issue  1,   1992,   Page  54-60

Stefan Joksch,   Walter Graeff,   Peter Zaumseil,   Ulrich Winter,   Laszlo Csepregi,   Franz Iberl,   Andreas K. Freund,  

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10. Electrical and structural properties of silicon layers heavily damaged by ion implantation
  Journal of Applied Physics,   Volume  72,   Issue  1,   1992,   Page  61-68

J. Boussey‐Said,   G. Ghibaudo,   I. Stoemenos,   P. Zaumseil,  

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