Journal of Applied Physics


ISSN: 0021-8979        年代:1996
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年代:1996
 
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1. Substrate selection for high‐temperature superconducting thin films
  Journal of Applied Physics,   Volume  79,   Issue  4,   1996,   Page  1829-1848

Julia M. Phillips,  

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2. Spectroscopy and laser operation of Pr, Mg:SrAl12O19
  Journal of Applied Physics,   Volume  79,   Issue  4,   1996,   Page  1849-1856

Larry D. Merkle,   Bahram Zandi,   Richard Moncorge´,   Yannick Guyot,   Horacio R. Verdun,   Bruce McIntosh,  

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3. Ultrasonic imaging of the group velocity surface about the cubic axis in silicon
  Journal of Applied Physics,   Volume  79,   Issue  4,   1996,   Page  1857-1863

Kwang Yul Kim,   Kathleen C. Bretz,   Arthur G. Every,   Wolfgang Sachse,  

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4. Electrical explosion of segmented wires
  Journal of Applied Physics,   Volume  79,   Issue  4,   1996,   Page  1864-1868

Y. Me‐Bar,   R. Harel,  

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5. Characterization of strained quantum wells by high‐resolution x‐ray diffraction
  Journal of Applied Physics,   Volume  79,   Issue  4,   1996,   Page  1869-1875

Y. Finkelstein,   E. Zolotoyabko,   M. Blumina,   D. Fekete,  

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6. GaAs nanocrystals formed by sequential ion implantation
  Journal of Applied Physics,   Volume  79,   Issue  4,   1996,   Page  1876-1880

C. W. White,   J. D. Budai,   J. G. Zhu,   S. P. Withrow,   R. A. Zuhr,   D. M. Hembree,   D. O. Henderson,   A. Ueda,   Y. S. Tung,   R. Mu,   R. H. Magruder,  

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7. Three‐dimensional imaging with a nuclear magnetic resonance force microscope
  Journal of Applied Physics,   Volume  79,   Issue  4,   1996,   Page  1881-1884

O. Zu¨ger,   S. T. Hoen,   C. S. Yannoni,   D. Rugar,  

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8. Nanomechanical basis for imaging soft materials with tapping mode atomic force microscopy
  Journal of Applied Physics,   Volume  79,   Issue  4,   1996,   Page  1885-1890

A. J. Howard,   R. R. Rye,   J. E. Houston,  

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9. Helix deformation and bistable switching of ferroelectric liquid crystals
  Journal of Applied Physics,   Volume  79,   Issue  4,   1996,   Page  1891-1894

A. Ja´kli,   S. Markscheffel,   A. Saupe,  

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10. Measurement of interdiffusion in II–VI quantum‐well structures using optical methods
  Journal of Applied Physics,   Volume  79,   Issue  4,   1996,   Page  1895-1897

I. Karla,   D. Shaw,   W. E. Hagston,   J. H. C. Hogg,   S. Chalk,   J. E. Nicholls,   C. Peili,  

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