Journal of Applied Physics


ISSN: 0021-8979        年代:1997
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年代:1997
 
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1. Analyzing atomic force microscopy images using spectral methods
  Journal of Applied Physics,   Volume  82,   Issue  12,   1997,   Page  5891-5898

S. J. Fang,   S. Haplepete,   W. Chen,   C. R. Helms,   Hal Edwards,  

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2. Imaging flaws in magnetically permeable structures using the truncated generalized inverse on leakage fields
  Journal of Applied Physics,   Volume  82,   Issue  12,   1997,   Page  5899-5906

A. C. Bruno,  

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3. Efficiency enhancement in a Cherenkov laser by a proper permittivity variation
  Journal of Applied Physics,   Volume  82,   Issue  12,   1997,   Page  5907-5912

A. Hirata,   T. Shiozawa,  

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4. Novel theoretical aspects on photorefractive ultrasonic detection and implementation of a sensor with an optimum sensitivity
  Journal of Applied Physics,   Volume  82,   Issue  12,   1997,   Page  5913-5922

Louis-Anne de Montmorillon,   Philippe Delaye,   Jean-Claude Launay,   Ge´rald Roosen,  

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5. Temperature-dependence studies of photorefractive effect in a low glass-transition-temperature polymer composite
  Journal of Applied Physics,   Volume  82,   Issue  12,   1997,   Page  5923-5931

Bogdan Swedek,   Ning Cheng,   Yiping Cui,   Jaroslaw Zieba,   Jeffrey Winiarz,   Paras N. Prasad,  

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6. Attenuation of Love waves in low-loss media
  Journal of Applied Physics,   Volume  82,   Issue  12,   1997,   Page  5932-5937

P. Kiełczyn´ski,  

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7. Kinetics of fluorine atoms in high-density carbon–tetrafluoride plasmas
  Journal of Applied Physics,   Volume  82,   Issue  12,   1997,   Page  5938-5943

K. Sasaki,   Y. Kawai,   C. Suzuki,   K. Kadota,  

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8. Electromagnetic field structure in a weakly collisional inductively coupled plasma
  Journal of Applied Physics,   Volume  82,   Issue  12,   1997,   Page  5944-5947

V. A. Godyak,   R. B. Piejak,  

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9. The analysis of background gas heating in direct current sputtering discharges via particle simulation
  Journal of Applied Physics,   Volume  82,   Issue  12,   1997,   Page  5948-5957

Vladimir V. Serikov,   Kenichi Nanbu,  

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10. Stopping and damage parameters for Monte Carlo simulation of MeV implants in crystalline Si
  Journal of Applied Physics,   Volume  82,   Issue  12,   1997,   Page  5958-5964

G. Lulli,   E. Albertazzi,   M. Bianconi,   R. Nipoti,   M. Cervera,   A. Carnera,   C. Cellini,  

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