Journal of Applied Physics


ISSN: 0021-8979        年代:1996
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1. Semiconductor ultraviolet detectors
  Journal of Applied Physics,   Volume  79,   Issue  10,   1996,   Page  7433-7473

M. Razeghi,   A. Rogalski,  

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2. Sampling criteria for resonant antennas and scatterers
  Journal of Applied Physics,   Volume  79,   Issue  10,   1996,   Page  7474-7482

Arthur D. Yaghjian,  

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3. Modal analysis of optical guides with two‐dimensional photonic band‐gap boundaries
  Journal of Applied Physics,   Volume  79,   Issue  10,   1996,   Page  7483-7492

H. Benisty,  

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4. Electro‐refraction and electro‐absorption in poled polymer Fabry–Perot e´talons
  Journal of Applied Physics,   Volume  79,   Issue  10,   1996,   Page  7493-7500

Ned F. O’Brien,   Vince Dominic,   Stephen Caracci,  

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5. Fabrication and properties of light‐emitting diodes based on self‐assembled multilayers of poly(phenylene vinylene)
  Journal of Applied Physics,   Volume  79,   Issue  10,   1996,   Page  7501-7509

A. C. Fou,   O. Onitsuka,   M. Ferreira,   M. F. Rubner,   B. R. Hsieh,  

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6. Resonant tunneling times in superlattice structures
  Journal of Applied Physics,   Volume  79,   Issue  10,   1996,   Page  7510-7513

J.‐W. Choe,   H.‐J. Hwang,   A. G. U. Perera,   S. G. Matsik,   M. H. Francombe,  

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7. Metastable optical gratings in compound semiconductors
  Journal of Applied Physics,   Volume  79,   Issue  10,   1996,   Page  7514-7522

D. D. Nolte,  

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8. A radiometric investigation of low‐pressure rf sulfur discharges
  Journal of Applied Physics,   Volume  79,   Issue  10,   1996,   Page  7523-7528

N. D. Gibson,   U. Kortshagen,   J. E. Lawler,  

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9. Aluminum‐induced crystallization and counter‐doping of phosphorous‐doped hydrogenated amorphous silicon at low temperatures
  Journal of Applied Physics,   Volume  79,   Issue  10,   1996,   Page  7529-7536

M. S. Haque,   H. A. Naseem,   W. D. Brown,  

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10. Structural and elastic behavior of Fe50Al50nanocrystalline alloys
  Journal of Applied Physics,   Volume  79,   Issue  10,   1996,   Page  7537-7544

E. Bonetti,   G. Scipione,   R. Frattini,   S. Enzo,   L. Schiffini,  

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