Journal of Applied Physics


ISSN: 0021-8979        年代:1992
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1. Temperature dependence of the ruby luminescence method for measuring high pressures
  Journal of Applied Physics,   Volume  72,   Issue  12,   1992,   Page  5535-5538

J. Yen,   M. Nicol,  

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2. Calibration of the rubyR1andR2fluorescence shifts as a function of temperature from 0 to 600 K
  Journal of Applied Physics,   Volume  72,   Issue  12,   1992,   Page  5539-5544

Deirdre D. Ragan,   R. Gustavsen,   David Schiferl,  

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3. Characteristics of discharge‐excited barium vapor lasers operating in the 1–5 &mgr;m spectral band
  Journal of Applied Physics,   Volume  72,   Issue  12,   1992,   Page  5545-5554

H. M. Pask,   J. A. Piper,  

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4. Light power dependence of electro‐optical transmission in InGaAs/AlGaAs multiple quantum wells
  Journal of Applied Physics,   Volume  72,   Issue  12,   1992,   Page  5555-5560

Stephen Giugni,   Kenji Kawashima,   Naokatsu Sano,   Kenzo Fujiwara,  

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5. High transfer‐efficiency microsurface acoustic wave directional couplers
  Journal of Applied Physics,   Volume  72,   Issue  12,   1992,   Page  5561-5564

I. Haruvi‐Busnach,   M. Zilberstein,   G. Golan,   A. Seidman,   N. Croitoru,  

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6. Frequency dependence of ultrasonic velocity and attenuation in two‐phase composite systems with spherical scatterers
  Journal of Applied Physics,   Volume  72,   Issue  12,   1992,   Page  5565-5570

Ingo Alig,   Dirk Lellinger,  

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7. Variational theory of the radiant emittance of the mercury argon discharge and the effects of isotopic enrichment
  Journal of Applied Physics,   Volume  72,   Issue  12,   1992,   Page  5571-5578

R. W. Richardson,   S. M. Berman,  

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8. Modeling and measurements of the negative ion flux from amplitude modulated rf discharges
  Journal of Applied Physics,   Volume  72,   Issue  12,   1992,   Page  5579-5592

Lawrence J. Overzet,   Yun Lin,   Laizhong Luo,  

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9. Ion irradiation damage inn‐type GaAs in comparison with its electron irradiation damage
  Journal of Applied Physics,   Volume  72,   Issue  12,   1992,   Page  5593-5601

F. H. Eisen,   K. Bachem,   E. Klausman,   K. Koehler,   R. Haddad,  

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10. Ion mixing enhanced wafer bonding for silicon‐on‐insulator structures
  Journal of Applied Physics,   Volume  72,   Issue  12,   1992,   Page  5602-5605

N. Q. Kha´nh,   M. Fried,   A. To´th,   J. Gyulai,   B. Pe´cz,  

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