Journal of Applied Crystallography


ISSN: 1600-5767        年代:1972
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年代:1972
 
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1. Time‐shared routines for X‐ray line broadening analysis
  Journal of Applied Crystallography,   Volume  5,   Issue  6,   1972,   Page  389-394

T. L. Nunes,   J. G. Kim,   S. K. Mendiratta,  

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2. On the determination of the absolute intensity of X‐rays scattered by a non‐crystalline specimen
  Journal of Applied Crystallography,   Volume  5,   Issue  6,   1972,   Page  395-401

F. Hajdu,   G. Pálinkás,  

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3. The optimum choice of reflexion to reveal dislocations in gallium arsenide by X‐ray reflexion topography
  Journal of Applied Crystallography,   Volume  5,   Issue  6,   1972,   Page  401-407

S. O'Hara,   M. A. G. Halliwell,   J. B. Childs,  

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4. Preferred orientation in pyrolytic carbons and polymers
  Journal of Applied Crystallography,   Volume  5,   Issue  6,   1972,   Page  408-411

S. Ergun,   R. R. Schehl,  

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5. Mouvements des boucles de discloations glissiles précédant la formation des lignes de glissement, dans les `rubans' de cuivre
  Journal of Applied Crystallography,   Volume  5,   Issue  6,   1972,   Page  411-415

H. J. Latiere,   H. Caumon,  

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6. Correction des oscillations dans les distributions de tailles de particules obtenues à partir des profils de raies de diffraction
  Journal of Applied Crystallography,   Volume  5,   Issue  6,   1972,   Page  416-420

F. De Bergevin,   P. Germi,  

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7. A technique for the automatic recording of phase transitions in single crystals
  Journal of Applied Crystallography,   Volume  5,   Issue  6,   1972,   Page  420-423

A. M. Glazer,  

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8. A re‐assessment of the monotectoid loop (β‐Nb+β‐Zr) in the niobium–zirconium system
  Journal of Applied Crystallography,   Volume  5,   Issue  6,   1972,   Page  423-425

P. E. J. Flewitt,  

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9. A comment on the use of symmetry arguments in the interpretation of X‐ray diffraction patterns from two‐phase systems
  Journal of Applied Crystallography,   Volume  5,   Issue  6,   1972,   Page  425-427

A. E. Curzon,   T. S. Luhman,   J. M. Silcock,  

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10. Effect of finite slit height on the tail of a small‐angle X‐ray scattering curve
  Journal of Applied Crystallography,   Volume  5,   Issue  6,   1972,   Page  428-429

J. Šoler,   J. Baldrian,  

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