Journal of Applied Crystallography


ISSN: 1600-5767        年代:1969
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年代:1969
 
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1. A program to calculate the variance of X‐ray line profiles
  Journal of Applied Crystallography,   Volume  2,   Issue  5,   1969,   Page  193-196

R. J. Hilleard,   J. A. Webster,  

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2. Electron‐induced decomposition of tin(IV) sulphide in the electron microscope controlled by epitaxy on inner lattice planes
  Journal of Applied Crystallography,   Volume  2,   Issue  5,   1969,   Page  196-199

J. R. Günter,   H. R. Oswald,  

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3. Synergy of line profile analysis and selected area topography by the X‐ray divergent beam method
  Journal of Applied Crystallography,   Volume  2,   Issue  5,   1969,   Page  200-209

H. L. Glass,   S. Weissmann,  

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4. Single and multiple X‐ray small‐angle scattering of carbon fibres
  Journal of Applied Crystallography,   Volume  2,   Issue  5,   1969,   Page  209-218

R. Perret,   W. Ruland,  

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5. The structure of liquid bismuth–indium alloys
  Journal of Applied Crystallography,   Volume  2,   Issue  5,   1969,   Page  219-223

S. P. Isherwood,   B. R. Orton,  

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6. Développements d'une technique de topographie en réflexion des rayons X
  Journal of Applied Crystallography,   Volume  2,   Issue  5,   1969,   Page  223-230

C. Schiller,  

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7. Ferroelectric properties of NaU2(PO4)3single crystals
  Journal of Applied Crystallography,   Volume  2,   Issue  5,   1969,   Page  230-232

M. Topić,   B. Prodić,  

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8. Crystal growthedited by F. C. Frank, J. B. Mullin and H. S. Peiser
  Journal of Applied Crystallography,   Volume  2,   Issue  5,   1969,   Page  233-234

S. Amelinckx,  

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9. Optical crystallographyby E. E. Wahlstrom
  Journal of Applied Crystallography,   Volume  2,   Issue  5,   1969,   Page  234-235

M. M. Woolfson,  

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10. Crystals and their structuresby A. P. Cracknell
  Journal of Applied Crystallography,   Volume  2,   Issue  5,   1969,   Page  235-235

M. M. Woolfson,  

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