Journal of Applied Crystallography


ISSN: 1600-5767        年代:1986
当前卷期:Volume 19  issue 2     [ 查看所有卷期 ]

年代:1986
 
     Volume 19  issue 1   
     Volume 19  issue 2
     Volume 19  issue 3   
     Volume 19  issue 4   
     Volume 19  issue 5   
     Volume 19  issue 6   
1. Bravais‐lattice determination for automatic data collection
  Journal of Applied Crystallography,   Volume  19,   Issue  2,   1986,   Page  69-72

C. Katayama,  

Preview   |   PDF (333KB)

2. A test of the accuracy of high‐pressure measurements using a Merrill–Bassett diamond‐anvil cell
  Journal of Applied Crystallography,   Volume  19,   Issue  2,   1986,   Page  73-76

A. Katrusiak,   R. J. Nelmes,  

Preview   |   PDF (376KB)

3. The generalized equation of pseudo‐Kossel lines
  Journal of Applied Crystallography,   Volume  19,   Issue  2,   1986,   Page  77-79

W. E. Mayo,  

Preview   |   PDF (274KB)

4. Einfluss der Valenzelektronenkonzentration auf die Bildung der Phasen vom Ni2In‐Strukturtyp am Beispiel der ternären Verbindungen Mn2Ga0.5As0.5(m),Fe3GaAs und Co2Ga0.5As0.5
  Journal of Applied Crystallography,   Volume  19,   Issue  2,   1986,   Page  80-85

M. Ellner,   M. El‐Boragy,  

Preview   |   PDF (659KB)

5. Lattice thermal expansion behaviour of spinel HgCr2Se4
  Journal of Applied Crystallography,   Volume  19,   Issue  2,   1986,   Page  86-89

P. Kistaiah,   C. V. Reddy,   K. S. Murthy,  

Preview   |   PDF (421KB)

6. CAMAL– a new component of the Cambridge Structural Database software system
  Journal of Applied Crystallography,   Volume  19,   Issue  2,   1986,   Page  90-91

R. Taylor,  

Preview   |   PDF (245KB)

7. Synchrotron X‐ray polycrystalline diffractometry
  Journal of Applied Crystallography,   Volume  19,   Issue  2,   1986,   Page  92-100

W. Parrish,   M. Hart,   T. C. Huang,  

Preview   |   PDF (920KB)

8. Interactive graphics for rapid indexing of oscillation films from large unit cells
  Journal of Applied Crystallography,   Volume  19,   Issue  2,   1986,   Page  101-104

P. C. Moews,   T. Sakamaki,   J. R. Knox,  

Preview   |   PDF (857KB)

9. A nitrogen‐gas‐stream cryostat for general X‐ray diffraction studies
  Journal of Applied Crystallography,   Volume  19,   Issue  2,   1986,   Page  105-107

J. Cosier,   A. M. Glazer,  

Preview   |   PDF (796KB)

10. On the origin of optical activity in crystal structures
  Journal of Applied Crystallography,   Volume  19,   Issue  2,   1986,   Page  108-122

A. M. Glazer,   K. Stadnicka,  

Preview   |   PDF (1699KB)

首页 上一页 下一页 尾页 第1页 共17条