X‐Ray Spectrometry


ISSN: 0049-8246        年代:1980
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年代:1980
 
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1. Editorial
  X‐Ray Spectrometry,   Volume  9,   Issue  4,   1980,   Page  153-153

Ron Jenkins,  

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2. Correction for matrix effects in x‐ray fluorescence analysis of finite media
  X‐Ray Spectrometry,   Volume  9,   Issue  4,   1980,   Page  154-158

Yakov Ben‐Haim,  

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3. X‐ray emission intensities of radioisotopes produced by neutron activation
  X‐Ray Spectrometry,   Volume  9,   Issue  4,   1980,   Page  159-162

B. S. Negi,   S. Sadasivan,  

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4. Qualitative and quantitative analysis of technical aluminium phosphide
  X‐Ray Spectrometry,   Volume  9,   Issue  4,   1980,   Page  163-169

M. Mantler,   J. Wernisch,  

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5. Quantitative röntgenfluoreszenzanalyse mit hilfedes linearen und quadratischen hybridmodells
  X‐Ray Spectrometry,   Volume  9,   Issue  4,   1980,   Page  170-175

H. Kloyber,   H. Ebel,   M. Mantler,   S. Koitz,  

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6. Relationship between the reciprocal of analyte‐‐line intensity and the reciprocal of weight fraction and its utilization in x‐ray fluorescence analysis
  X‐Ray Spectrometry,   Volume  9,   Issue  4,   1980,   Page  176-183

Eiichi Asada,   Shoji Matsuda,   Yoshiko Suzuki,   Mitsuo Nakamura,   Toshiyuki Tone,  

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7. Recent developments in detectors for process control x‐ray sensors
  X‐Ray Spectrometry,   Volume  9,   Issue  4,   1980,   Page  184-188

K. G. Carr‐Brion,  

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8. Space resolved x‐ray spectroscopy for tokamak
  X‐Ray Spectrometry,   Volume  9,   Issue  4,   1980,   Page  189-194

Benjamin S. Fraenkel,  

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9. A practical relation between atomic numbers and alpha coefficients
  X‐Ray Spectrometry,   Volume  9,   Issue  4,   1980,   Page  195-197

G. R. Lachance,  

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10. Analysis of geologic materials using an automated x‐ray fluorescence system
  X‐Ray Spectrometry,   Volume  9,   Issue  4,   1980,   Page  198-205

Brian Schroeder,   Geoffrey Thompson,   Margaret Sulanowska,   John N. Ludden,  

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