X‐Ray Spectrometry


ISSN: 0049-8246        年代:1987
当前卷期:Volume 16  issue 6     [ 查看所有卷期 ]

年代:1987
 
     Volume 16  issue 1   
     Volume 16  issue 2   
     Volume 16  issue 3   
     Volume 16  issue 4   
     Volume 16  issue 5   
     Volume 16  issue 6
1. Editorial
  X‐Ray Spectrometry,   Volume  16,   Issue  6,   1987,   Page  235-235

John V. Gilfrich,  

Preview   |   PDF (66KB)

2. Ice thickness and low‐energy Si(Li) detector efficiency measurements
  X‐Ray Spectrometry,   Volume  16,   Issue  6,   1987,   Page  237-241

David D. Cohen,  

Preview   |   PDF (435KB)

3. Assessment of the gaussian ϕ(ρz) curves in quantitative electron probe microanalysis without optimization of the parameters
  X‐Ray Spectrometry,   Volume  16,   Issue  6,   1987,   Page  243-248

J. H. Tirira Saá,   M. A. Del Giorgio,   J. A. Riveros,  

Preview   |   PDF (483KB)

4. Evaluation of the main atomic number, absorption and fluorescence correction models in quantitative microanalysis
  X‐Ray Spectrometry,   Volume  16,   Issue  6,   1987,   Page  249-254

D. Ugarte,   G. Castellano,   J. Trincaveli,   M. Del Giorgio,   J. A. Riveros,  

Preview   |   PDF (502KB)

5. Problems of automatic qualitative X‐ray fluorescence analysis: Part one
  X‐Ray Spectrometry,   Volume  16,   Issue  6,   1987,   Page  255-259

J. U. Jordanov,   T. S. Tsanov,   R. Stefanov,   N. Jordanov,  

Preview   |   PDF (436KB)

6. The Claisse–Quintin and Lachance–Claisse alpha correction algorithms and their modifications. A critical examination
  X‐Ray Spectrometry,   Volume  16,   Issue  6,   1987,   Page  261-266

R. Tertian,  

Preview   |   PDF (488KB)

7. Product news
  X‐Ray Spectrometry,   Volume  16,   Issue  6,   1987,   Page  267-267

Preview   |   PDF (76KB)

8. Masthead
  X‐Ray Spectrometry,   Volume  16,   Issue  6,   1987,   Page  -

Preview   |   PDF (80KB)

首页 上一页 下一页 尾页 第1页 共8条