X‐Ray Spectrometry


ISSN: 0049-8246        年代:1990
当前卷期:Volume 19  issue 6     [ 查看所有卷期 ]

年代:1990
 
     Volume 19  issue 1   
     Volume 19  issue 2   
     Volume 19  issue 3   
     Volume 19  issue 4   
     Volume 19  issue 5   
     Volume 19  issue 6
1. Structure of electrodeposited films of cobalt and nickel: Fourier analysis of the EXAFS of the x‐ray K‐absorption edges
  X‐Ray Spectrometry,   Volume  19,   Issue  6,   1990,   Page  251-259

Benu Sinha,   Amar Nath Nigam,  

Preview   |   PDF (642KB)

2. Spectral distribution of backseattered electrons: Application to electron probe microanalysis
  X‐Ray Spectrometry,   Volume  19,   Issue  6,   1990,   Page  261-267

M. Del Giorgio,   J. Trincavelli,   J. A. Riveros,  

Preview   |   PDF (490KB)

3. Electron backscattering coefficient for the ‘film‐substrate’ solid system
  X‐Ray Spectrometry,   Volume  19,   Issue  6,   1990,   Page  269-274

S. V. Kazakov,   S. G. Konnikov,   V. V. Tretyakov,  

Preview   |   PDF (376KB)

4. X‐ray depth distribution function, ϕ(ρz), for thin spheres
  X‐Ray Spectrometry,   Volume  19,   Issue  6,   1990,   Page  275-283

Nuri A. Zreiba,   Thomas F. Kelly,  

Preview   |   PDF (744KB)

5. Determination of potassium and calcium in milk powder by energy‐dispersive x‐ray fluorescence spectrometry
  X‐Ray Spectrometry,   Volume  19,   Issue  6,   1990,   Page  285-287

M. Alvarez,   V. Mazo‐Gray,  

Preview   |   PDF (260KB)

6. Some features of the Lachance‐Traill equation
  X‐Ray Spectrometry,   Volume  19,   Issue  6,   1990,   Page  289-292

A. Kuczumow,   J. A. Helsen,  

Preview   |   PDF (413KB)

7. Forthcoming meetings and conferences
  X‐Ray Spectrometry,   Volume  19,   Issue  6,   1990,   Page  293-293

Preview   |   PDF (45KB)

8. Announcements
  X‐Ray Spectrometry,   Volume  19,   Issue  6,   1990,   Page  294-294

Preview   |   PDF (42KB)

9. Masthead
  X‐Ray Spectrometry,   Volume  19,   Issue  6,   1990,   Page  -

Preview   |   PDF (86KB)

首页 上一页 下一页 尾页 第1页 共9条