Review of Scientific Instruments


ISSN: 0034-6748        年代:1988
当前卷期:Volume 59  issue 1     [ 查看所有卷期 ]

年代:1988
 
     Volume 59  issue 1
     Volume 59  issue 2   
     Volume 59  issue 3   
     Volume 59  issue 4   
     Volume 59  issue 5   
     Volume 59  issue 6   
     Volume 59  issue 7   
     Volume 59  issue 8   
     Volume 59  issue 9   
     Volume 59  issue 10   
     Volume 59  issue 11   
     Volume 59  issue 12   
1. Velocimetry of fast surfaces using Fabry–Perot interferometry
  Review of Scientific Instruments,   Volume  59,   Issue  1,   1988,   Page  1-21

C. F. McMillan,   D. R. Goosman,   N. L. Parker,   L. L. Steinmetz,   H. H. Chau,   T. Huen,   R. K. Whipkey,   S. J. Perry,  

Preview   |   PDF (2576KB)

2. Multidetector electron energy‐loss spectrometer for time‐resolved surface studies
  Review of Scientific Instruments,   Volume  59,   Issue  1,   1988,   Page  22-44

Bruce A. Gurney,   W. Ho,   Lee J. Richter,   J. S. Villarrubia,  

Preview   |   PDF (2892KB)

3. Image bandpass filter in photoelectron spectromicroscopy
  Review of Scientific Instruments,   Volume  59,   Issue  1,   1988,   Page  45-48

D. W. Turner,   I. R. Plummer,   H. Q. Porter,  

Preview   |   PDF (378KB)

4. New method for accurate calibration of an electron‐spin polarimeter
  Review of Scientific Instruments,   Volume  59,   Issue  1,   1988,   Page  49-51

H. Hopster,   D. L. Abraham,  

Preview   |   PDF (354KB)

5. Scanning x‐ray microscope with 75‐nm resolution
  Review of Scientific Instruments,   Volume  59,   Issue  1,   1988,   Page  52-59

H. Rarback,   D. Shu,   S. C. Feng,   H. Ade,   J. Kirz,   I. McNulty,   D. P. Kern,   T. H. P. Chang,   Y. Vladimirsky,   N. Iskander,   D. Attwood,   K. McQuaid,   S. Rothman,  

Preview   |   PDF (1038KB)

6. Angular scanning stage for glancing‐incidence surface EXAFS
  Review of Scientific Instruments,   Volume  59,   Issue  1,   1988,   Page  60-63

D. T. Jiang,   N. Alberding,   A. J. Seary,   E. D. Crozier,  

Preview   |   PDF (486KB)

7. Temperature‐jump apparatus and measuring system for synchrotron solution x‐ray scattering experiments
  Review of Scientific Instruments,   Volume  59,   Issue  1,   1988,   Page  64-66

Yuzuru Hiragi,   Hiroshi Nakatani,   Kanji Kajiwara,   Hideo Inoue,   Yoh Sano,   Mikio Kataoka,  

Preview   |   PDF (321KB)

8. Para‐flex stage for microtopographic mapping
  Review of Scientific Instruments,   Volume  59,   Issue  1,   1988,   Page  67-73

E. Clayton Teague,   Russell D. Young,   Fredric Scire,   David Gilsinn,  

Preview   |   PDF (790KB)

9. Collinear laser and slow‐ion‐beam apparatus for high‐precision laser‐rf double‐resonance spectroscopy
  Review of Scientific Instruments,   Volume  59,   Issue  1,   1988,   Page  74-80

A. Sen,   L. S. Goodman,   W. J. Childs,  

Preview   |   PDF (719KB)

10. Acousto‐optic color spectrometer
  Review of Scientific Instruments,   Volume  59,   Issue  1,   1988,   Page  81-83

J. Hallikainen,   J. Parkkinen,   T. Jaaskelainen,  

Preview   |   PDF (271KB)

首页 上一页 下一页 尾页 第1页 共39条