Technometrics


ISSN: 0040-1706        年代:1994
当前卷期:Volume 36  issue 1     [ 查看所有卷期 ]

年代:1994
 
     Volume 36  issue 1
     Volume 36  issue 2   
     Volume 36  issue 3   
     Volume 36  issue 4   
1. Editor's Report
  Technometrics,   Volume  36,   Issue  1,   1994,   Page  1-2

StephenB. Vardeman,  

Preview   |   PDF (164KB)

2. Run-Length Distributions of Special-Cause Control Charts for Correlated Processes
  Technometrics,   Volume  36,   Issue  1,   1994,   Page  3-17

DonG. Wardell,   Herbert Moskowitz,   RobertD. Plante,  

Preview   |   PDF (1546KB)

3. Discussion
  Technometrics,   Volume  36,   Issue  1,   1994,   Page  17-19

JamesM. Lucas,  

Preview   |   PDF (350KB)

4. Discussion
  Technometrics,   Volume  36,   Issue  1,   1994,   Page  19-22

BenjaminM. Adams,   WilliamH. Woodall,   ClaudeR. Superville,  

Preview   |   PDF (442KB)

5. Discussion
  Technometrics,   Volume  36,   Issue  1,   1994,   Page  22-23

WilliamH. Fellner,  

Preview   |   PDF (200KB)

6. Rejoinder
  Technometrics,   Volume  36,   Issue  1,   1994,   Page  23-27

DonG. Wardell,   Herbert Moskowitz,   RobertD. Plante,  

Preview   |   PDF (478KB)

7. Analysis of Weight Frequency Distributions Using Replicated Data
  Technometrics,   Volume  36,   Issue  1,   1994,   Page  28-36

Thaung Lwin,  

Preview   |   PDF (958KB)

8. A Simple Bayesian Modification ofD-Optimal Designs to Reduce Dependence on an Assumed Model
  Technometrics,   Volume  36,   Issue  1,   1994,   Page  37-47

William DuMouchel,   Bradley Jones,  

Preview   |   PDF (1294KB)

9. Estimation of Extreme Quantiles Based on Sensitivity Tests: A Comparative Study
  Technometrics,   Volume  36,   Issue  1,   1994,   Page  48-60

LindaJ. Young,   RobertG. Easterling,  

Preview   |   PDF (1205KB)

10. AD-Optimality-Based Sensitivity Test
  Technometrics,   Volume  36,   Issue  1,   1994,   Page  61-70

BarryT. Never,  

Preview   |   PDF (1043KB)

首页 上一页 下一页 尾页 第1页 共30条