Journal of Applied Crystallography


ISSN: 1600-5767        年代:1973
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年代:1973
 
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1. Röntgentopographische und elektronenmikroskopische Untersuchung der Realstruktur von γ‐In2S3‐kristallen
  Journal of Applied Crystallography,   Volume  6,   Issue  1,   1973,   Page  1-8

P. Buck,  

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2. Some comments on line‐broadening analyses
  Journal of Applied Crystallography,   Volume  6,   Issue  1,   1973,   Page  8-11

A. Kidron,   J. B. Cohen,  

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3. A method for analyzing image distortion in diffraction topographs
  Journal of Applied Crystallography,   Volume  6,   Issue  1,   1973,   Page  12-19

P. W. Kingman,  

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4. X‐ray diffraction from one‐dimensional superlattices in GaAs1−xPxcrystals
  Journal of Applied Crystallography,   Volume  6,   Issue  1,   1973,   Page  19-25

A. Segmüller,   A. E. Blakeslee,  

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5. Location of Nd dopant in fluorapatite, Ca5(PO4)3F: Nd
  Journal of Applied Crystallography,   Volume  6,   Issue  1,   1973,   Page  26-31

P. E. Mackie,   R. A. Young,  

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6. X‐ray topographic studies of dislocation contrast in silicon after boron diffusion
  Journal of Applied Crystallography,   Volume  6,   Issue  1,   1973,   Page  31-38

B. K. Tanner,  

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7. Observations on the ferromagnetic β phase of the Cu–Mn–Sn system
  Journal of Applied Crystallography,   Volume  6,   Issue  1,   1973,   Page  39-41

M. A. Meyers,   C. O. Ruud,   C. S. Barrett,  

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8. Three‐dimensional vacuum furnace for neutron diffraction from ferroelectric crystals
  Journal of Applied Crystallography,   Volume  6,   Issue  1,   1973,   Page  42-43

A. W. Hewat,  

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9. On the calculation of orientation distributions in fibres and sheets
  Journal of Applied Crystallography,   Volume  6,   Issue  1,   1973,   Page  44-44

S. Seitsonen,  

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10. Crystallographers
  Journal of Applied Crystallography,   Volume  6,   Issue  1,   1973,   Page  45-45

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