Soft Matter


ISSN: 1744-683X        年代:1984
当前卷期:Volume 3  issue 2     [ 查看所有卷期 ]

年代:1984
 
     Volume 3  issue 5-6   
     Volume 3  issue 1   
     Volume 3  issue 2
     Volume 3  issue 3   
     Volume 3  issue 4   
1. The inadequacy of the stuck-at fault model for testing mos lsi circuits: a review of mos failure mechanisms and some implications for computer-aided design and test of mos lsi circuits
  Soft Matter,   Volume  3,   Issue  2,   1984,   Page  30-36

N.Burgess,   R.I.Damper,  

Preview   |   PDF (1737KB)

2. A testability measure to improve algebraic test generation
  Soft Matter,   Volume  3,   Issue  2,   1984,   Page  37-41

AntonioLioy,   MarcoMezzalama,  

Preview   |   PDF (1367KB)

3. Cmos microprocessor systems
  Soft Matter,   Volume  3,   Issue  2,   1984,   Page  42-44

N.Bankay,  

Preview   |   PDF (594KB)

4. Microprocessors in an automotive application
  Soft Matter,   Volume  3,   Issue  2,   1984,   Page  45-51

R.Green,   S.Ismail,  

Preview   |   PDF (829KB)

首页 上一页 下一页 尾页 第1页 共4条