X‐Ray Spectrometry


ISSN: 0049-8246        年代:1991
当前卷期:Volume 20  issue 1     [ 查看所有卷期 ]

年代:1991
 
     Volume 20  issue 1
     Volume 20  issue 2   
     Volume 20  issue 3   
     Volume 20  issue 4   
     Volume 20  issue 5   
     Volume 20  issue 6   
1. From the editor
  X‐Ray Spectrometry,   Volume  20,   Issue  1,   1991,   Page  1-1

John Gilfrich,  

Preview   |   PDF (30KB)

2. Guest editorial
  X‐Ray Spectrometry,   Volume  20,   Issue  1,   1991,   Page  3-3

Yohichi Gohshi,  

Preview   |   PDF (80KB)

3. Trends in quantification in XRF
  X‐Ray Spectrometry,   Volume  20,   Issue  1,   1991,   Page  5-7

B. A. R. Vrebos,   G. T. J. Kuipéres,  

Preview   |   PDF (293KB)

4. Intensity and distribution of background x‐rays in wavelength‐dispersive spectrometry
  X‐Ray Spectrometry,   Volume  20,   Issue  1,   1991,   Page  9-22

Tomoya Arai,  

Preview   |   PDF (984KB)

5. Instrumental developments in total reflection x‐ray fluorescence analysis for K‐lines from oxygen to the rare earth elements
  X‐Ray Spectrometry,   Volume  20,   Issue  1,   1991,   Page  23-28

P. Wobrauschek,   P. Kregsamer,   C. Streli,   H. Aiginger,  

Preview   |   PDF (445KB)

6. Thin‐film characterization by x‐ray fluorescence
  X‐Ray Spectrometry,   Volume  20,   Issue  1,   1991,   Page  29-33

T. C. Huang,  

Preview   |   PDF (432KB)

7. Compact synchrotron radiation light source covering the soft x‐ray to the ultraviolet spectral region
  X‐Ray Spectrometry,   Volume  20,   Issue  1,   1991,   Page  35-37

Hiromitsu Nakabushi,  

Preview   |   PDF (606KB)

8. News
  X‐Ray Spectrometry,   Volume  20,   Issue  1,   1991,   Page  39-39

Preview   |   PDF (232KB)

9. Forthcoming meetings and conferences
  X‐Ray Spectrometry,   Volume  20,   Issue  1,   1991,   Page  41-41

Preview   |   PDF (68KB)

10. Masthead
  X‐Ray Spectrometry,   Volume  20,   Issue  1,   1991,   Page  -

Preview   |   PDF (91KB)

首页 上一页 下一页 尾页 第1页 共10条