X‐Ray Spectrometry


ISSN: 0049-8246        年代:1993
当前卷期:Volume 22  issue 1     [ 查看所有卷期 ]

年代:1993
 
     Volume 22  issue 1
     Volume 22  issue 2   
     Volume 22  issue 3   
     Volume 22  issue 4   
     Volume 22  issue 5   
     Volume 22  issue 6   
1. From the editor
  X‐Ray Spectrometry,   Volume  22,   Issue  1,   1993,   Page  1-1

John Gilfrich,  

Preview   |   PDF (61KB)

2. Review of φ(ρz) curves in electron probe microanalysis
  X‐Ray Spectrometry,   Volume  22,   Issue  1,   1993,   Page  3-10

José Riveros,   Gustavo Castellano,  

Preview   |   PDF (858KB)

3. Simulation of relationships between substrate XRF intensities and film thicknesses
  X‐Ray Spectrometry,   Volume  22,   Issue  1,   1993,   Page  11-12

Qinmin Fan,  

Preview   |   PDF (192KB)

4. X‐ray attenuation coefficients at 6.46 keV and the validity of the mixture rule for compounds
  X‐Ray Spectrometry,   Volume  22,   Issue  1,   1993,   Page  13-16

B. R. Kerur,   S. R. Thontadarya,   B. Hanumaiah,  

Preview   |   PDF (454KB)

5. Simplified mathematical approach to XRF secondary excitation
  X‐Ray Spectrometry,   Volume  22,   Issue  1,   1993,   Page  17-22

C. Bui,   M. Milazzo,   C. Sironi,  

Preview   |   PDF (450KB)

6. Analysis of desert rose using PIXE and RBS techniques
  X‐Ray Spectrometry,   Volume  22,   Issue  1,   1993,   Page  23-27

M. M. Al‐Kofahi,   A. B. Hallak,   H. A. Al‐Juwair,   A. K. Saafin,  

Preview   |   PDF (464KB)

7. Characterization of environmental dusts by x‐ray fluorescence spectrometry using a micro bead presentation
  X‐Ray Spectrometry,   Volume  22,   Issue  1,   1993,   Page  28-32

Lynne V. Moore,  

Preview   |   PDF (317KB)

8. How accurate is the fundamental parameter approach? XRF analysis of bulk and multilayer samples
  X‐Ray Spectrometry,   Volume  22,   Issue  1,   1993,   Page  33-38

D. K. G. De Boer,   J. J. M. Borstrok,   A. J. G. Leenaers,   H. A. Van Sprang,   P. N. Brouwer,  

Preview   |   PDF (589KB)

9. Collimated and windowless x‐ray microfluorescence analysis in a scanning electron microscope
  X‐Ray Spectrometry,   Volume  22,   Issue  1,   1993,   Page  39-43

G. Valdrè,  

Preview   |   PDF (499KB)

10. High‐precision non‐destructive x‐ray fluorescence method applicable to establishing the provenance of obsidian artifacts
  X‐Ray Spectrometry,   Volume  22,   Issue  1,   1993,   Page  44-53

Robert D. Giauque,   Frank Asaro,   Fred H. Stross,   Thomas R. Hester,  

Preview   |   PDF (1021KB)

首页 上一页 下一页 尾页 第1页 共15条