X‐Ray Spectrometry


ISSN: 0049-8246        年代:1987
当前卷期:Volume 16  issue 1     [ 查看所有卷期 ]

年代:1987
 
     Volume 16  issue 1
     Volume 16  issue 2   
     Volume 16  issue 3   
     Volume 16  issue 4   
     Volume 16  issue 5   
     Volume 16  issue 6   
1. Editorial
  X‐Ray Spectrometry,   Volume  16,   Issue  1,   1987,   Page  1-1

John V. Gilfrich,  

Preview   |   PDF (58KB)

2. A modified theoretical model for the efficiency calculations of a Si(Li) detector
  X‐Ray Spectrometry,   Volume  16,   Issue  1,   1987,   Page  3-6

M. L. Garg,   Jasbir Singh,   H. R. Verma,   P. N. Trehan,  

Preview   |   PDF (365KB)

3. Surface and near‐surface chemical characterization by low‐energy electron‐induced X‐ray spectrometry (LEEIXS): A review
  X‐Ray Spectrometry,   Volume  16,   Issue  1,   1987,   Page  7-16

M. Romand,   R. Bador,   M. Charbonnier,   F. Gaillard,  

Preview   |   PDF (823KB)

4. Mean energy of backscattered electrons at various angles of incidence
  X‐Ray Spectrometry,   Volume  16,   Issue  1,   1987,   Page  17-21

M. Gaber,  

Preview   |   PDF (391KB)

5. Optimization of geometry for x‐ray analysis of rare earth materials
  X‐Ray Spectrometry,   Volume  16,   Issue  1,   1987,   Page  23-26

Madan Lal,   R. K. Choudhury,   R. M. Agrawal,  

Preview   |   PDF (325KB)

6. Theoretical assessment of the coefficients ϕ(0) and γ0of the Gaussian ϕ(ρz) curves
  X‐Ray Spectrometry,   Volume  16,   Issue  1,   1987,   Page  27-32

J. H. Tirira Saa,   J. A. Riveros,  

Preview   |   PDF (450KB)

7. Effect of relative L‐line intensity ratios on the accuracy of standardless x‐ray microanalysis
  X‐Ray Spectrometry,   Volume  16,   Issue  1,   1987,   Page  33-36

János L. Lábár,  

Preview   |   PDF (360KB)

8. Quantitative analysis of binary mixtures using a simple x‐ray fluorescence technique
  X‐Ray Spectrometry,   Volume  16,   Issue  1,   1987,   Page  37-39

Raj Mittal,   K. L. Allawadhi,   B. S. Sood,  

Preview   |   PDF (289KB)

9. Calculation of the influence coefficients for the claisse–quintin algorithm
  X‐Ray Spectrometry,   Volume  16,   Issue  1,   1987,   Page  41-44

Kevin R. Wadleigh,  

Preview   |   PDF (290KB)

10. Precipitation technique to prepare thin‐film standards of lead and zinc for x‐ray fluorescence spectrometry
  X‐Ray Spectrometry,   Volume  16,   Issue  1,   1987,   Page  45-49

Thomas W. S. Pang,   Anthony M. D'Onofrio,   Francis B. Lo,   Douglas K. Arai,   Mark A. Nazar,  

Preview   |   PDF (484KB)

首页 上一页 下一页 尾页 第1页 共12条