X‐Ray Spectrometry


ISSN: 0049-8246        年代:1994
当前卷期:Volume 23  issue 1     [ 查看所有卷期 ]

年代:1994
 
     Volume 23  issue 1
     Volume 23  issue 2   
     Volume 23  issue 3   
     Volume 23  issue 4   
     Volume 23  issue 5   
     Volume 23  issue 6   
1. From the editor
  X‐Ray Spectrometry,   Volume  23,   Issue  1,   1994,   Page  1-1

John Gilfrich,  

Preview   |   PDF (47KB)

2. Chemical characterization of environmental particulate matter using synchrotron radiation
  X‐Ray Spectrometry,   Volume  23,   Issue  1,   1994,   Page  3-6

Sz. Török,   Gy. Faigel,   K. W. Jones,   M. L. Rivers,   S. R. Sutton,   S. Bajt,  

Preview   |   PDF (382KB)

3. Bent and flat highly oriented pyrolytic graphite crystals as small bragg angle monochromators in thin‐specimen energy‐dispersive XRF analysis
  X‐Ray Spectrometry,   Volume  23,   Issue  1,   1994,   Page  7-18

Burkhard Beckhoff,   Jens Laursen,  

Preview   |   PDF (1126KB)

4. Anomalous X‐ray absorption of the Mα lines in the rare earth elements
  X‐Ray Spectrometry,   Volume  23,   Issue  1,   1994,   Page  19-26

János L. Lábár,  

Preview   |   PDF (685KB)

5. Simultaneous matrix and background correction method and its application in XRF concentration determination of trace elements in geological materials
  X‐Ray Spectrometry,   Volume  23,   Issue  1,   1994,   Page  27-31

Younan Hua,   C. T. Yap,  

Preview   |   PDF (414KB)

6. Lowering the limits of detection of X‐ray fluorescence analysis in the electron microscope
  X‐Ray Spectrometry,   Volume  23,   Issue  1,   1994,   Page  32-35

Á. Barna,   I. Pozsgai,   C. E. Fiori,   S. A. Wight,  

Preview   |   PDF (398KB)

7. X‐Ray fluorescence analysis with elements having overlapped lines
  X‐Ray Spectrometry,   Volume  23,   Issue  1,   1994,   Page  36-39

Raúl T. Mainardi,   Raúl A. Barrea,  

Preview   |   PDF (321KB)

8. Energy‐dispersive XRF analysis of pure element intensities from their oxides using a Cd‐109 source
  X‐Ray Spectrometry,   Volume  23,   Issue  1,   1994,   Page  40-44

Younan Hua,   C. T. Yap,  

Preview   |   PDF (306KB)

9. Handbook of X‐Ray Spectrometry: Methods and Techniques Edited by: Rene E. Van Grieken and Andrzej A. Markowicz Published by Marcel Dekker, Inc., New York, 1993; xiv + 704 pp., $195, ISBN 0‐8247‐8483‐9
  X‐Ray Spectrometry,   Volume  23,   Issue  1,   1994,   Page  45-46

John Gilfrich,  

Preview   |   PDF (257KB)

10. News
  X‐Ray Spectrometry,   Volume  23,   Issue  1,   1994,   Page  47-48

Preview   |   PDF (145KB)

首页 上一页 下一页 尾页 第1页 共12条