AbstractWird die Metallspitze eines Feldemissionsmikroskopes bei angelegtem Feld einer gewissen Temperatur ausgesetzt, so werden Bildänderungen beobachtet, die als Zeichen von Kristallstufen gedeutet werden. Es wird eine Methode der Stufenmessung beschrieben, nach der mit Feldemissionsmikroskopen Abstände auch unterhalb des Auflösungsvermögens indirekt gemessen werden (bis zu 0,54 Å).Die Entstehung der Kristallstufen wird als eine kombinierte Wirkung einer durch das Feld beeinflußten Oberflächenwanderung und einer „Feldverdampfung”︁ gedeutet. Es wird die Hypothese aufgestellt, daß Oberflächenbausteine in elektrischen Feldern einer zusätzlichen, feldstärkeabhängigen Bindungsenergie unterworfen sind. Quantitative Betrachtungen führen zu der Voraussage, daß Oberflächenatome an Orte hoher Lokalfeldstärke wandern, so daß auf einer ursprünglich glatten Oberfläche ein Oberflächengebirge entstehen kann. Die theoretisch berechnete Abhängigkeit der Höhen von Oberflächenstufen von der Feldstärke und der Temperatur stimmt mit den erhaltenen Meßwerten gut überein.Enthält der Kristall Versetzungen, so sollte dies an der Form gewisser Stufen erkennbar sein. Derartige Kurvenformen der Stufen werden berechnet und mit experimentel